你(们)好。
我已经开发了一个程序来根据我们从桥式传感器收集的数据(3个温度、2个高压/低压和1个中点室温)生成 PGA309查找表。 当我们收集这些数据时、这些传感器没有连接任何电子器件。
我正在尝试确定如何以编程方式开发内部寄存器配置、以及这些配置是动态还是静态根据 LUT 计算的。 我很难理解这一点。 我通读寄存器说明、内部寄存器是否根据当前温度 ADC 读数保存 LUT 变量(增益/零)的"计算"值？ 如果是、如何 确定内部寄存器的线性化 DAC 设置[7：0]？
这是计算出的 Klin 数(这全部基于已淘汰的电子表格 PGA309DK 校准电子表格、版本1.2.4、(C) 2004 Texas Instruments)、将向该寄存器写入什么内容？
谢谢、
电视
您好、Torin、
PGA309在温度范围内为量程(增益)和偏移提供校准。 在校准例程期间、该器件使用存储在查找表中的校正系数来校正非线性增益漂移和非线性偏移漂移误差与温度间的关系。 查找表存储在外部 EEPROM (非易失性存储器)上。
Klin 因子和线性寄存器 DAC 设置是与上述增益/偏移系数分开的系数、其中线性 DAC 通过调整激励电压来校正电桥传感器在压力变化时的非线性。 请注意、该器件仅存储单个线性化 DAC 系数(更详细的信息如下)。
温度范围内的 PGA309偏移和增益校正。
PGA309执行偏移和增益校准校正、并通过在查找表上执行不同校准点的线性内插来校正整个温度范围内的非线性增益和偏移漂移误差。 本质上、通过在不同温度下的初始校准例程期间存储增益和偏移校正系数、不同的增益和偏移系数存储在外部 EEPROM 上(系数存储在非易失性存储器上)。 PGA309使用内部温度传感器 ADC 在查找表上根据温度选择合适的系数。 用户指南中的下图显示了器件如何使用线性插值校正非线性温度误差。 该器件可在 EEPROM 中存储一个查找表、其中包含多达17个温度指数值/系数。 有关 查找表校正因数的详细示例计算、请参阅 PGA309用户指南的第3.2节第62-65页。
PGA309线性化功能与施加的压力间的关系。
PGA309包含一个用于传感器电压激励和线性化的专用电路、如 PGA309用户指南的图2-10所示。 线性化电路可调节所选 VREF、并通过反馈引脚(VFB)将其与部分输出电压(VOUT)相加、以补偿桥式传感器输出与压力间的弓形非线性。 通过调整激励电压、可校正电桥非线性与压力间的关系。
有关如何计算线性 DAC 寄存器设置的详细示例、请参阅 PGA309用户指南的第2.6节。 必须知道电桥的非线性。 可以测量或估算传感器的非线性、方法是在最小压力、最大压力和中量程压力下测量电桥输出、以估算电桥与压力的最大非线性。 PGA309线性化电路只能在施加压力时补偿传感器非线性的抛物线形状部分。 假定这个非线性在温度变化范围内是恒定的。 EEPROM 中仅存储一个线性化 DAC 寄存器系数。
谢谢、此致、
Luis
