你好
在"SLOA059–2001年3月"中、显示了以下文本:
"半导体中的正常老化会导致器件特性发生变化。 输入失调电压长期漂移指定了 VIO 预期随时间变化的方式。 其单位为 µV μ A/月。"
为什么 TLV2464数据表中未显示有关"失调电压长期漂移"的信息? 它是如此之低、以至于不能被考虑、还是可以在哪里找到这些信息?
我需要它进行 Vio 计算。 请参见下面的。
此致
Edson
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你好
在"SLOA059–2001年3月"中、显示了以下文本:
"半导体中的正常老化会导致器件特性发生变化。 输入失调电压长期漂移指定了 VIO 预期随时间变化的方式。 其单位为 µV μ A/月。"
为什么 TLV2464数据表中未显示有关"失调电压长期漂移"的信息? 它是如此之低、以至于不能被考虑、还是可以在哪里找到这些信息?
我需要它进行 Vio 计算。 请参见下面的。
此致
Edson
早上爱德森
在运算放大器数据表中看到长期漂移图是很少见的。 尽管如此,这一部分在1998年的介绍中,到目前为止可能已经报告了一些测量数据。 最近对这一点进行了讨论、其中、更新的斩波放大器似乎表现得非常好、没有从初始值漂移、我确实在这一个中对测量数据进行了几次引用、但几乎再也看不到该图(在基准上更常见)
Edson、
关于 Ron 的"随时间推移漂移不是线性的"这一评论、 本应用手册中对此主题进行了进一步讨论。
此致、
Daniel Miller
这是一篇很好的文章-我也认为有一篇终点数据从 HTOL 的某个地方移出-通常很难找到/提取-但它确实存在。 因此、当器件或器件系列处于合格状态时、有人会获取包括偏移量在内的预发布数据-这将为您提供实际的班次信息。 我在 HTOL 方面的经验是、HTOL 或 ATE 的错误在很大的转变中。 但希望得到最好的结果、
我实际上会发现、通过 HTOL 查看已经出现的斩波放大器的偏移漂移数据很有趣。 我的印象是这些没有显示初始值的偏移漂移、但我可能会被误解。