This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] INA317:热循环

Guru**** 1125150 points
Other Parts Discussed in Thread: INA317
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/899763/ina317-thermal-cycling

器件型号:INA317

我计划使用以下步骤对安装在 PCB 上的 INA317执行重复热循环。 我计划用 硅树脂将整个 PCB 烧结、以减轻温度影响。  

A.           预热期。

b.           在138°C、~2ATM 蒸汽环境下30分钟。

C.            冷却期。

首先、我计划使用已知的输入电压阶跃来测试输出电压。 在评估热循环后的性能时、我应该特别注意哪些其他参数。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Jagbir、

    问题:

    在评估热循环后的性能时、我应该特别注意哪些其他参数。

    根据您在 INA317中进行的热循环测试、这似乎是不可操作的热循环测试。 我推测的原因是、在工作条件下(没有某种冷却、比如冷却板等)、没有运算放大器组件可以处理138C 环境温度。

    当您执行热循环测试时、热循环测试有两种主要不同类型(动态或静态热循环测试)。 无论您在做什么、您都需要注意以下事项:  

    1.您必须在实际的最终产品配置中执行测试。 在最终产品配置中、使用硅化合物对 PCB 进行灌封可能不具有代表性。 因此、您需要按原样测试产品、否则您的测试结果将无效。  

    2.所有热循环都必须遵循行业的特定合规性。 汽车具有其定义的热循环测试要求。 航空航天技术的表现略有不同。 医疗行业的热循环测试也不一样。 因此、我需要知道您所遵循的行业合规性、并且您需要遵循该特定的热测试标准以及测试方法和程序。  

    138C 的温度似乎高了38分钟、对于高温操作来说很长、除非它是非工作测试。  

    4、 我已经参与了6年的 HALT & Hass 测试、您的热测试参数对我来说并不熟悉。  

    以下是热循环测试的典型 HALT 和 Hass 测试设置。  

    HALT & Hass 测试室需要具有用于加热和冷却的极高温度斜坡速率、比如用于冷冷冷冷热和冷却的60-80C/分钟。 该室由硝基液冷却。 HALT & Hass 腔室也具有随机振动曲线、尽管您未在每次测试中使用。 箱体必须具有很高的流速、否则箱体中的某个位置可能存在高温位置。  在测试期间、应将加热或冷却空气管道直接置于 EUT (INA317)顶部。  

    2.您所监控的温度传感器必须放置在 EUT 之上。 在这种情况下、应高于 INA317 1英寸或直接位于 INA317封装顶部。 INA317封装的温度应高于 INA317工作测试室的空气温度。  

    INA317的额定工作温度范围为-55C 至+125C。 IC 的额定结温为150C。 顺便说一下、这些是典型的温度值。 虽然 INA317中的器件具有某种 热设计裕度、但并非每个器件都能满足相同的热要求。  

    4、如果这是运行测试、您需要使用标准电压轨、将输入信号馈入 INA317的输入、并在时间和温度范围内监控运算放大器的输出。 如果 INA317的电源是测试的一部分、则需要记录其随时间推移和温度变化的电压和电流性能。 测试需要反映现场的实际热环境。 因此、应尽可能接近测试的所有运行参数。  

    5.分阶段进行热测试是个好主意。 换句话说、您需要建立一个基线。 假设室温设置为125C、您完成了热循环测试、所有部件均通过测试。 然后将室温增加到132C、并重复相同的测试。 它可能通过或未通过测试。 由于基线为125C、因此您可以相应地增加到下一个热点。 如果它通过了132C 热循环测试、则您可以转到下一个热设定点。 在某些时候、您会看到 INA317开始失效或无法正常工作。 只要您将热测试保持在绝对最大额定值范围内、这并不是破坏性测试(它可能会在某个点停止工作)。  

    6.如果您有多个 INA317样品、最好同时进行。  

    7.由于 INA317具有质量、因此在测试过程中会出现热滞后。 当达到室温设定点时、可能需要 INA317运算放大器更长时间才能达到室温。 在我看来、您正在138C 进行热浸测试。 我不清楚、138C 时38分钟是138C 时的总测试时间或温度斜坡时间+浸泡时间。 传统的热处理室只能工作2-10C/分钟、因此从室温达到138C 可能需要一段时间。 由于您的热测试没有详细介绍、因此我无法对此进行评论。  

    总之、我在这里写了很多。 如果您有任何其他问题。 请继续在主题帖上发帖。  

    最棒的

    Raymond

     

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Jagbir、

    请注意、硅具有较高的水蒸汽渗透率。

    Kai

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Jagbir、

    问题:

    我计划用 硅树脂将整个 PCB 烧结、以减轻温度影响。  

    我忘记了"温度影响:当您用硅为 INA317的 PCB 灌封时。  

    硅是一种良好的热绝缘体、但只有在短时间内、导通热量才能到达灌封内部的 INA317。 换句话说、通过灌入 PCB、您将延迟从试验箱到 INA317的热传递。 如果在138下进行38分钟的温度浸泡测试、则可能会产生其他影响、例如 INA317需要很长时间才能冷却。

    测试室内的硅质灌化合物将逐渐吸收试验室内的热量。 由于热传导、硅化合物将在腔室中达到热平衡、INA317的末尾将接近138C (由于 INA317的散热可能更高)。 如果您正在进行多项热循环测试、累积的热量可能会进入硅化合物内部、而 INA317最终将在整个循环过程中在接近更高的温度下进行测试。 在冷却周期中、它也会延迟 INA317中的冷却。   

    INA317会在热循环过程中出现较慢的温度变化(上升或下降)。  也许、它可以在 INA317中提供更好的电气性能特性。  

    最棒的

    Raymond

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    在热测试期间、我没有进行任何测量。 我将仅在冷却 PCB 后执行测量。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我们不进行任何 HALT/CASS 测试。我们计划对该器件进行高压灭菌、这是我之前提供的规格。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Jagbir、

    这些测试 配置非常相似。 INA317的热测试周期是不运行还是运行测试? 不清楚。 您仍然能够将电信号传递到高压灭菌器、但您的电极连接受到限制。   

    对于高压灭菌测试、您需要在 INA317旁边放置两个或多个温度传感器。 在高压灭菌器配置中、您有几个测试问题。  

    1.室温的均匀性不是很理想,因为室内的气流是无的或最小的。  室内局部高温点可能是一个问题。

    2.高压灭菌器的温度上升时间非常长(除非您在外面有强大的加热器),因为它具有很大的热质量。 将高压灭菌器从室温加热至138C 可能需要30分钟以上。  

    对于非操作测试:

    在将 PCB 置于高压灭菌器内部之前、您需要确定 INA317性能参数的特性。  在完成热测试后、您会再次确定其特性、并查找器件的差异或降级等。 对于 INA317非操作测试、测试设置比操作测试简单得多。  

    如果您的最终产品应该使用硅进行封装、那么您将通过这种方式对其进行测试。 如果不是、请按原样测试 PCB。 在给定温度下建立工作性能/参考基线(例如120C 左右)仍然是个好主意。  

    对于操作测试:

    请按照我在第一次答复中提出的建议。   

    最棒的

    Raymond

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Jagbir、

    照片显示了由空气湿度引起的一层硅下面的气泡:

    Kai

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    雷蒙德

    感谢您的详细回复。目前 、我正在制定测试计划。 如果在此热循环过程中遇到任何问题、我将在论坛中联系我们。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Kai、

    测试期间的环境条件是什么。

    Jagbir

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Jagbir、

    不幸的是,只有德语:-)

    Kai

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Jagbir、

    Kai 建议的文章采用德语。  Kai 表示硅化合物的潮湿 渗透率较低。  水份会在潮湿的条件下渗透到硅基灌封化合物中(不适合湿度测试或高潮湿环境下)。  当内部较高的温度从灌封材料中排出水分时、累积的水分会沉淀到表面上。 因此、如果您希望使 INA317保持在稳定的工作环境中、硅化合物是一种难以从环境中产生水分的不良材料。  

    如果您想让电路中的水分保持远离、则更好的电路材料之一是使用一定的低渗透性环氧树脂化合物。 环氧树脂的问题在于、它会在固化过程中产生应力。 这些不必要的应力对于某些应用来说是不可取的。 因此、您需要创建一个不受灌电流应力影响的内腔或槽(例如 INA317)、并且只使用环氧树脂封装 PCB 周围。   

    最棒的

    Raymond