[参考译文] LM358B：如何测量运算放大器的开环输出电阻？

您好 Oleg、  

欢迎使用 e2e！  

您想在仿真中测量实验室设置中的开环阻抗吗？ 请查看此文档、并告诉我它是否解决了您的问题：  

该规格通常可在我们的数据表的电气特性表或图中找到。  
这也可能是一个由设计表征的规格、因此运行仿真将为您提供结果、而不是对其进行测试。  

祝你一切顺利、
卡罗莱纳州  

您好、Caro、

感谢您的快速回复！

我想在实验室中测量开环阻抗。 由于它主要是输出级的输出电阻、因此在不同的输出直流电流下、它的值可能会有很大的不同。 根据我的最新经验、仿真模型在对输出电阻进行建模方面不够准确... 因此、我认为在试验电路板上测量它更安全。

SO Oleg、  

我通常使用 HP4195的 S11测量方法(包括集总元件建模功能)进行这些测量

当然、要获得开环、您需要运行开环、但如您所述、将输出保持在某个所需的电压或电流。 实际的开环输出阻抗确实随电压和电流条件而变化、如果需要、您可以在测试中控制这种情况。 除非您将模型作为晶体管级而不是宏进行建模、否则很少对此进行建模。  

在测试时、您需要将低速积分器环路环绕在器件周围以控制输出电压、从而将其放置在所需的位置。  

Ron、

两者。 我开发了一个新项目、其中 LM358/LM358B 的输出端将具有中等容性负载、因此有必要确保其稳定运行。 当然、可以通过实验完成此工作。 但是、我更喜欢计算它的行为、以确保绝对安全。 因此、我需要知道它的输出阻抗。

是的、我可以测量增益和相位。 问题是、我们必须在交流反馈环路断开时测量它们。 但同时、我们必须在直流时保留一些反馈以稳定运行点。 我认为这个问题可以解决、但我不想重塑车轮。 TI 可能会使用一些"典型"测试电路进行此类测量？

Michael、

是的、输出电阻是非线性的、因此有必要在"小信号"条件下进行测量。 这也是一个问题、因为运算放大器本身具有足够的增益并放大其自身的噪声。 因此、小输出信号可能会在噪声中丢失... 可能需要一些窄带宽滤波器...

[引用 user="Michael Steffes"]您需要绕过低速积分器循环

好主意、谢谢！

因此、Oleg、我把这个更进一步、这个很旧的器件从几个地方提供-出于某种原因、我有一个2018年的文件使用晶体管级的 on Semi 模型-这里是为 Zol sim 设置的

e2e.ti.com/.../LM358-ON-model-Zol-test.TSC

然后、我运行仿真、没有输出电流在851欧姆时非常平坦、看起来很高、但是  

然后、我从输出中拉出10mA、是的、Zol 会随着晶体管建模而发生很大的变化、低至26欧姆-在 F 上出奇地平坦-这让我认为他们的晶体管模型太简单了、

Oleg、

过去、我使用此电路获取 Zo、用于在 LM324上拉电流和灌电流。 增益是在整个频率范围内测得的 TEST/REF、并且在 SW-SPST1断开和闭合时记录了增益差以及电阻器值、以计算有效 Zo  

随附的电子表格省略了复数(仅使用增益差、不使用相位)、但这对于 LM324 (或 LM358)来说是可以的

e2e.ti.com/.../LM324-Out-Z-simple-test.xlsx

Michael、感谢您进行这些仿真。 之前我也做了一些仿真、最可信的模型是 National 的 LM358N。 尽管它显示的有源电阻与频率无关、但其值看起来是合理的：零输出电流时为~350欧姆、10mA 时为~20欧姆(拉电流)。 仿真电路与您的电路完全相同、只是使用了一个电阻来代替电感。 无论如何、我将尝试在实验室中使用积分器进行直流偏置测量。

如果您使用电阻器进行反馈、您是否未运行闭环？  

是的、对于实际的晶体管模型、这些平坦的 R over 频率看起来是奇数的。  

感谢您提供计算表。

"...dB 损耗在3KHz 到几乎1MHz 之间几乎是恒定的"-也许这是关键。 如果信号频率足够高、则可以在闭环配置中测量 Zo、从而显著降低运算放大器增益...

[引用 user="Michael Steffes">如果您使用电阻器进行反馈、您是否未运行闭环？  [/报价]

否、我使用了 R=1GOhm 和 C=1GF 反馈。

我的测试是闭环、但是我查看了 Vtest/Vref、它是开环增益、正向增益。

最终应用也将是闭环。  

[引用 user="Ron Michallick"]我查看了 Vtest/Vref、它是开环增益[/quot]

我只是注意到基准点位于反相输入、所以您是对的。 有趣的想法。