大家好！
我最近将我的设计从 ISO124移至 ISO224、因为 ISO124存在偏移问题。
ISO224B 在许多方面都更好。 我的失调电压问题、主要是测量之间的温度变化、得到了解决。
问题是 ISO224在温度变化时表现出非常差的增益稳定性。 在电路的10ºC 50ºC 位置、温度在+̊ C 至+̊ C 之间变化。
I´m 在该温度范围内的增益变化为0.25%。 ISO124U 在相同的条件下会改变偏移、但增益保持稳定(变化很小)。
我将 ISO224与电路的其余部分进行了热隔离、以确定变化的原因、我´m 100%确定问题出在 ISO224B 上。
我的问题是：是否有任何模拟隔离器可以实现 ISO224的失调电压稳定性和 ISO124的增益稳定性？ 是否有电路或任何改进来使 ISO224B 在温度变化时变得更加稳定(增益)？
提前感谢！
克里斯蒂亚诺
您好、Alexander、
遵循用于测试的原理图。 我´m Vout 并将其与 Vin 进行比较。 ´m、我使用两个 Agilent 34411A 作为 DMM、一个用于输入电压、另一个用于输出电压。
我执行了两个不同的测试来分别验证器件：
-首先我绕过输入电路(AD706和电阻分压器)并将10VDC 信号插入输入。 50ºC 了热变化的测量测试(控制环境温度介于23ºC μ V 和 μ V 之间)。 在本例中、我观察到温度变化导致的变化、在本例中为0.18%。 我将 ISO224B 更改为新的、结果相似(0.19%)。
-我的第二个测试绕过 ISO224B。 我将其从 PCB 上移除、并通过 ADA4522-2的引脚3直接连接 ISO224的引脚2。 我让10K 电阻器浮动(类似于缓冲器配置)。 在这种情况下、如果没有 ISO224B、我在相同的温度变化下进行了测试。 观察到的变化小于0.02%(小10倍)。 (在本例中、我将 GND 跳转至表)
绝缘层上有一个22pF x 6kV Y 型电容器、可更大限度地减少 dV/DT 问题(ISO124U 需要它来避免环境测量中的杂散噪声、因此我将它留在了这里)。
我将对 ISO224B 输出执行一些直接测量并返回结果。
谢谢。
克里斯蒂亚诺
PS.：我运行了4个标有 XISO224B 的验证测试、它们运行良好。 我´m 了最后一个 XISO224B、现在我对其进行了严格测试。 所有 ISO224B 单元在与 XISO224B 执行的相同测试中失败。
