请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：LM2904 测试目的： 在此类测试中，模拟 电池 突然打开，然后 Vin 将达到40V (超过 VCC 最大26V)
测试方法：为 Vin 提供40V/400ms 的电压以评估结果
风险问题：在测试中，Vcc ( 最大26V)上的脉冲电压，对 LM2904DR 有任何影响？
是否有理论支持在测试一次后，它仍然正常工作？
测试目的： 在此类测试中，模拟 电池 突然打开，然后 Vin 将达到40V (超过 VCC 最大26V)
测试方法：为 Vin 提供40V/400ms 的电压以评估结果
风险问题：在测试中，Vcc ( 最大26V)上的脉冲电压，对 LM2904DR 有任何影响？
是否有理论支持在测试一次后，它仍然正常工作？
您好！
这是一个不好的想法，正如凯建议的那样。 让我解释一下。
在确定最大输入电压时、我们需要考虑数据表中的两个点：建议运行条件和绝对最大额定值。 让我们考虑三个不同的运行区域：
1. 建议的工作条件决定了器件将显示典型运算放大器行为的区域。 请保持在该区域、以使您所需的行为脱离器件。
2. 在建议的条件之外运行、但在绝对最大额定值内运行将防止损坏您的器件。 但是、您可能会看到性能下降。
3. 如果您决定超出绝对最大额定值、则可能会损坏甚至损坏器件。
从数据表中可以看出、该测试将超过绝对最大输入电压。 因此，我们不能保证这部分能够生存下去。 该部件可能不会立即销毁。 但是、对器件施加这种类型的应力、尤其是重复执行时、可能会在长期内导致损坏和故障。
我们将此类故障称为电气过载(EOS)。 EOS 通常会在芯片内部造成短路、从而导致高功耗和不正确的运行。 EOS 的典型症状是输出始终饱和至其中一个电源轨。
如果您想查找具有较高输入电压额定值的类似器件、我很乐意为您提供帮助。
此致、
Daniel
