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[参考译文] THS4551：以输入为基准的失调电压

admin
Guru**** 656470 points
Other Parts Discussed in Thread: THS4551, THP210
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1182705/ths4551-input-referred-offset-voltage

器件型号：THS4551
主题中讨论的其他器件： THP210

尊敬的论坛成员：

数据表中  指定了输入参考失调电压和输入失调电压漂移。  它们之间有何关系？
我可以将 输入参考失调电压 TA = 25°C 最小值/最大值作为静态失调电压吗？ (在30年后是否仍然如此？)、
电压漂移与动态偏移电压、温度相关？ (175μV +(85°C-25°C)* 2μV μ V/°C = 295μV μ A)

一些背景：
我正在设计 一个精确的测量系统 ，该系统校准一次。 进行此校准后、系统必须保持稳定10年、10年后、允许出现一定程度的降级。  
如果静态失调电压在前10年没有变化、可以在校准后计算出该失调电压、并且我有更多的动态变化空间。  

感谢您的反馈。

此致、

Jacob

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    TI__Guru**** 656470 points
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    您好、Jacob、

    THS4551的数据表中有很多关于失调电压的材料。 另见第7.9节中的数字。

    您也可能感兴趣：

    https://e2e.ti.com/blogs_/archives/b/precisionhub/posts/ic-long-term-stability-the-only-constant-is-change

    Kai

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    TI__Guru**** 656470 points
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    您好、Jacob、

    除了 Kai 的建议和 Marek 博客文章的出色回顾、我还将咨询我的团队、以了解我们是否有任何有关 THS4551的具体信息。

    请在下周更新。

    最棒的

    阿尔茨

  • 0
    TI__Guru**** 656470 points
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    他在这里有一个长期漂移问题-除非你在某个时候开始获取有关数据、否则你将永远不会知道-我真的怀疑 THS4551或任何 FDA 一直在为此做出努力。  

    斩波器输入最适合这种情况、但我不知道有任何斩波器输入 FDA。

  • 0
    TI__Guru**** 656470 points
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    我同意；我通常会与团队一起检查更多开放式长期分析问题、看看是否有人在该部件或类似部件方面有过经验。  但是、鉴于需要在本次讨论中添加任何类似数据的内容(以及正在进行的假日旅行)、Jacob (客户)可能需要对 Marek 的解释和可用的数据表信息感到满意。  我将在本次讨论后附上我从团队中发现的任何增值内容。

    谢谢 Michael！   

    Jacob、  

    如果您对放大器架构类型或应用选择有其他疑问、请进行跟进。  否则、Kai 与 Marek 撰写的博客的链接可能是我们可以提供的最佳建议和清晰度。  请询问您是否需要帮助以大致了解 THS4551数据表或 FDA 的各个部分。  如果它与此帖子不直接相关、请打开一个新主题。

    最棒的

    阿尔茨

  • 0
    TI__Guru**** 656470 points
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    您好、Jacob、

    [引用 userid="539336" URL"~/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1182705/ths4551-input-referred-offset-voltage ]我正在设计 一个精确的测量系统 ，校准一次。 进行此校准后、系统必须保持稳定10年、10年后、允许出现一定程度的降级。  
    如果静态失调电压在前10年没有变化、则可以在校准后计算出该失调电压、并且我有更多的动态变化空间。

    输入失调电压变化的原因可能非常多。 封装或印刷电路板的机械应力可能是一个原因、如下所述：

    https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1105437/tlv9061-effects-of-mechanical-stress/4095607#4095607

    通过阿累尼乌斯方程估算输入失调电压的长期漂移时、我会很小心。 我还记得20年前关于电压基准长期漂移规格过于乐观的讨论、这也是通过从加速高温测试中推断得出的结果：

    e2e.ti.com/.../dn229f.pdf

    如果您可以将所有效果放入阿累尼乌斯方程中、或者换句话说、如果您知道所有相关效果的所有激活能量水平以及它们之间的加权方式、那么这种方法才有效。 然后、您必须考虑到、与加速高温测试中涉及的芯片相比、后期生产的芯片可能会出现不同的制造过程。 您还必须考虑到、在焊接工艺之后会产生额外的影响、这可能会导致输入失调电压随时间的变化更高。

    最后、所有这些阿累尼乌斯的东西和加速的高温测试都是一种统计策略、如果不能的话、只能估计无限大的批次大小。 它可以为您估算大量相同芯片的平均性能。 但它不会告诉您有关单个芯片和单个芯片的性能的任何信息。 您的异常值可能会超过长期漂移的10、100、1000甚至更多、而不会违反统计数据。

    请记住、制造商主要对所有芯片的平均性能感兴趣。 但是、您作为客户可能对单个芯片的性能感兴趣。 这是一个很大的差异。 对于制造商而言、可能可以接受的内容可能不需要您完全可以接受、反之亦然。

    简而言之、我认为长期漂移是无限的。 我不会假设输入失调电压在10年内不会变化。 这听起来非常不现实。 如果您真的对最低输入失调电压感兴趣、我想在加电期间通过输入或类似的接地开关实现自动输入失调电压校准例程。

    Kai

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    TI__Guru**** 656470 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我可以在这里添加另一条数据。 很久以前、我在 Intersil 的一位同事在新的 CMOS 斩波运算放大器上开始了实际的长期漂移测量。 我现在找不到这方面的应用手册、但似乎他们将其放入了 ISL28133单通道斩波器的数据表中。 这是对超过500天的偏移量的日常测量-仅在执行此测量的工程师死亡时才得出结论。 对于运算放大器而言、这种实际数据非常罕见、  而且非常昂贵且耗时。  

    另一方面、THP210中还需要考虑改进的直流精度 FDA。  

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    TI__Guru**** 656470 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的所有人：  

    感谢您提供的所有信息，这是新年的一个良好开端:)
    我将占用一些空间来适应漂移、并执行自动偏移校准。  
    此外、它还提供了有关其他长期影响的良好信息。

    此致、
    Jacob