请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：INA826 嗨、团队，
有关 INA826的温度漂移的一个问题。 此页面上的测试条件是什么？ 为什么该图中的增益误差漂移都为负？
此外，当增益大于1时，温漂是否会与分流电阻高度相关？ 我的客户对温漂有很高的要求、因此他们希望从您那里获得一些见解、谢谢！
Manu Chang
尊敬的 Manu：
测试条件为 Vs = ±15V、RL = 10kΩ Ω、Vref = 0V。
这些图表显示了典型的器件分布。 当然、工艺差异和不同的晶圆批次可以产生 正或负增益误差漂移。 所示的分布可能包含 来自单个晶圆的器件、其中显示了围绕10ppm/°C 典型值的分布、在本例中为负。 您可以参考数据表的电气特性部分以了解典型和最大增益与温漂规格。 最大规格是器件中可能存在的"最坏情况"误差、但绝大多数器件的误差都分布在与图8所示类似的典型值周围。
数据表中指定的增益误差值不包括外部增益设置电阻 Rg 的影响。 由于采用精密激光修整的内部反馈电阻器、数据表中指定的增益误差非常低。 对于 G>1的应用、 必须考虑 Rg 的电阻容差和温度系数、因为这些误差将会影响电路的总增益误差。
此致、
察赫