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[参考译文] THS4567：测量增益/相位特性

admin
Guru**** 657930 points
Other Parts Discussed in Thread: THS4567
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1256967/ths4567-measures-gain-phase-characteristics

器件型号：THS4567

尊敬的支持团队：

我们的客户使用跨阻将 photo-director 电流驱动到差分电压输出。
不过、客户似乎有一个振荡的输出。
请告诉我如何针对差分输出测量 THS4567跨阻电路的增益/相位特性。


差分输出采用交流耦合。
共模电压可能会波动。
耦合电容器的电容是否有任何影响？

e2e.ti.com/.../THS4567-differential-output-is-AC-coupled.pptx

此致、
由山浩明

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    TI__Guru**** 657930 points
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    尊敬的 Hiroaki：

    我看了看你提供的附件,但电路非常小和模糊,所以我不能从该图像重现它。 您是否能够提供更清晰的图像或在具有该图像的情况下附加原理图文件？ 我将能够对此提供进一步的帮助。

    谢谢。

    尼克

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    TI__Guru**** 657930 points
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    您好、NICK-SAN。

    我们客户的电路尚未公开披露。
    请告诉我如何测量相补角、以便客户继续评估。

    此致、
    由山浩明



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    尊敬的 Hiroaki-San：

    我完全理解。 只需确认一下、 您是否在差分 TIA 模式下运行 THS4567并启用 ICM 环路(ICM_EN = 2.5V)？

    以下资源可以帮助您了解如何评估相位裕度：

    TI 高精度实验室运算放大器视频系列 ->此视频系列有一个介绍稳定性的部分。 还有一个介绍 FDA 稳定性的视频、

    TIA 博客系列 ->此博客介绍了 TIA 电路的稳定性分析

    稳定性分析文章 ->这是一篇关于稳定性分析的深入文章

    如果还有任何问题、敬请告知。

    谢谢。

    尼克