[参考译文] EP：参数差异

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Guru**** 2390755 points

Other Parts Discussed in Thread: LM111

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：LM211-LM211 EP
主题中讨论的其他器件：LM111

在长时间存储条件下、输入失调电压是否预计会随着器件的老化而在数据表指定的条件下发生变化？

在长时间存储条件下、输出电压是否预计会随着器件老化而在数据表指定的条件下发生变化？

在存储在数据表规定限值内进行扩展期间、哪些参数变化最大？

根据构造中使用的不同材料、EP 和非 EP 器件的输入失调电压或输出电压是否预计会存在差异？

0 admin 2 年多前

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您好 Marshall：

请参阅此帖子：

另请参阅此演示：

您的大多数问题都会在 PPT 中得到解答。 10年内的失调电压可能会漂移高达±100%、输出摆幅也会达到±10%(请参阅幻灯片5)。

LM111/211/311系列是具有近50年历史的设计。由于这些比较器不被视为"精密"器件、因此未进行长期失调漂移分析。这就是它们具有失调电压调节引脚的原因、因此可以根据需要在系统中将其"归零"。

我无法详细说明 EP 与商用器件之间的差异。我不能说他们是完全相同的,但他们是非常非常相似和分享很多共同的 DNA。 EP 确实要经过一些额外的制造后测试、但我希望它们的老化情况类似。

如 PPT 中所述、热量是电子产品的最大敌人。运行它的温度越高、性能就越降级、预期的生命周期也就越短。因此、降低环境温度、并尽可能使用上拉电阻器作为光线、以降低输出级耗散。

放大器（参考译文帖）(Read Only)