[参考译文] THS4521：THS4521IDR 性能问题

用户好！

 几个问题：

1. 您以 dB 为单位测量的规格是什么？
2. 总计 A 与总计 C 与总计 Z 代表什么？
3. 您能与我们分享一个原理图吗？
4. 与正常波形相比、您是如何得到异常波形的？ 示例：它是否具有不同的单元但原理图相同？  

谢谢！

西马

1. 您以 dB 为单位测量的规格是什么？

"DB"是声压级的单位。

声压级是声音测量中常用的物理量

2. 总计 A 与总计 C 与总计 Z 代表什么？

总 A 表示 A 加权声压级的总值、

总 C 表示 C 加权声压级的总值、

总 Z 表示 Z 加权声压级的总值、

三种加权网络用于不同的测试场景。

忽略 A 加权声压级和 C 加权声压级、

关注 Z 加权声压级。

Z 加权意味着零加权，即不进行加权。

3. 原理图

4. 您如何获得异常与正常波形？

   测试条件：

   这是同一个 PCB、

   相同的原理图、

   唯一的区别是芯片(THS4521)。

5. 
6. 

7. 我们的仪器已大规模生产五年。

   检测过程中发现异常背景噪音的仪器波形

   生产工艺如图1所示。

   该问题可以通过更换芯片(THS4521)来解决。

   然后再次进行测试以获得正常波形、如图2所示。

   所有测量值都在同一仪器上进行了测试、仅替换了芯片(THS4521)。

   这一批仪器的故障率已经达到了25%、问题也是一样的。

   该解决方案是相同的、都是更换芯片(THS4521)。

您好！  

我预计您的电路可能不稳定。 在电路中不包含并联反馈电阻的情况下、很难获得稳定的理想集成电路。 我建议与电容并联一些反馈电阻、看看这是否可以解决问题。  

此致！  

雅各布  

      电路中有反馈电阻器、    可   通过  ADG409进行不同的放大。

      电路中有反馈电阻器、    可   通过  ADG409进行不同的放大。

您好！  

在下面的原理图中、我看不到 THS4521输出和输入之间连接了反馈电阻器的位置。 原理图中现在是否显示了另一种连接？  

您好！

电路中有反馈电阻器、并且可通过

ADG409. 放大倍数之一

您好！

 此原理图是所用多个 THS4521中的一个吗？ 在我们的了解下、您正在将 THS4521用于不同的增益配置、而在生产中则通过 ADG409进行切换。 这是否意味着 THS4521存在于设计中、已配置为第一个原理图或第二个原理图。 如果是、那么您是看到第一个原理图配置还是第二个原理图配置出现了问题？ 此外、对于 THS4521、这个25%故障率问题的配置方式是否完全相同？

谢谢！

西马   

您好！

1. 此原理图是使用的多个 THS4521中的一个。
2. 第一个原理图可使用 ADG409进行配置、从而实现3个不同的反馈网络、

每个都具有不同的增益、并在第二个原理图中将其作为其中一个增益。 第二个原理图

ADG409控制引脚配置为以下配置时、第一个原理图的等效形式

第二个示意图只是回答了 Jacob Freet 所问的问题、表明

在第一个原理图中是反馈电阻器。PCB 上只有第一个原理图。

3. 对于完全以相同方式配置的 THS4521、可以看到25%故障率问题。

请帮助确认上述回复的处理结果

您好！

1. 此原理图是使用的多个 THS4521中的一个。
2. 第一个原理图可使用 ADG409进行配置、从而实现3个不同的反馈网络、

每个都具有不同的增益、并在第二个原理图中将其作为其中一个增益。 第二个原理图

ADG409控制引脚配置为以下配置时、第一个原理图的等效形式

第二个示意图只是回答了 Jacob Freet 所问的问题、表明

在第一个原理图中是反馈电阻器。PCB 上只有第一个原理图。

3. 在制造商的产品中发现了25%故障率问题、

您好！

 很抱歉耽误你的时间、感谢您提供更多信息。

 这是否意味着第一个原理图显示了在全部三个反馈电阻开关均断开时配置的 THS4521？ 使用发生故障的 THS4521单元切换到其他增益配置时、它们通过还是继续发生故障？

此致、
西马  

您好！第一个原理图显示了三个反馈网络。
ADG409由 FPGA 进行控制、且一次只有一个反馈网络连接到 THS4521。

您好！

 我知道您在测试过程中至少连接了一个反馈网络。 THS4521单元是否会因每个反馈网络选择而失效、还是仅发生特定反馈或放大？ 这样、我就可以对故障配置运行稳定性分析。

  此外、我建议进行 ABA 交换、移除故障器件、并将其焊接到通过电路板。 然后、检查器件测量是否失败或通过。 如果测量通过、则将该单元重新置于故障电路板上并再次进行测试、让我们了解它在同一电路板中的表现。

谢谢！
西马  

发生故障的 THS4521测量全部三个反馈网络下的异常波形。
我们已经进行了 ABA 交换，并得出以下结论：
故障 THS4521安装在 通过板上、仍会测量上述异常波形。

您好！

 在这种情况下、我将运行仿真以检查系统的稳定性。 如果它接近不稳定性、某些单元可能会通过、而其他单元可能会由于器件开环增益的容差而失败。 我很快就会给您回复、并提供更新。

谢谢！
西马  

请帮助确认是否有任何新进展
谢谢！

请帮助确认是否有任何新进展
谢谢！

请帮助确认是否有任何新进展

您好！

 很抱歉耽误你的时间。 我在最后随附的原理图上运行了仿真、结果如下所示：

  增益正确、而电路显示的闭环带宽接近10MHz。  

  电路的相位裕度稳定在大约73度的相位裕度。 为了使电路保持稳定、相位裕度必须约为45度或大于45度。  

  请确认仿真是否显示了您在故障情况下看到的正确原理图和元件值。 此外、输出电容 C132的值是多少、这可能会显著改变电路的稳定性。  

e2e.ti.com/.../THS4521_5F00_Sound tsc

e2e.ti.com/.../THS4521_5F00_SoundStability.TSC

谢谢！

西马  

您好、提供的文件无法打开、因此我们已将其发送给测试机构进行测试。 请帮助确认测试报告中给出的具体原因

感谢 youe2e.ti.com/.../Product-Test-Report.pdf

您好！

请给我们留出时间查看您发送的测试报告、如果我们有任何问题或更新、我们会及时回复您。

此致、

伊格纳西奥

好的、您有大致的时间吗？ 您什么时候期望结果？

您好！

我们的其中一名团队成员在故障分析流程中有丰富的经验、我们将联系相应的团队、进一步调查报告中的结果、以确认是否存在任何质量/制造问题。 对于任何延误、我深表歉意；这些流程有时需要时间才能完成。 我们将在有任何要分享的内容时尽快更新消息。

此致、

伊格纳西奥

你好

您能否查看此报告并确认结果？ 谢谢！

您好！

 感谢您主持和分享该报告。 我们让测试经理查看了该报告、并建议我们进行进一步的分析。 我将这份报告发送给了我们的质量和可靠性专家。 我会跟进以尽快得到回复。  对于解决此问题的延误、我们深表歉意。

此致、

西马

您好

您能帮助我确认此案例的最新进展吗？ 谢谢！

您好！  

 我们的团队专家查看了该报告、下一步是跟踪晶圆厂批次质量团队。 报告中提到的裂纹/刻痕是激光修整阻力。 不过、我们正在研究如何使用制造厂来修整该器件、他们将进行进一步的调查和分析。 我们的团队将推动快速响应和分析报告。  

谢谢！
西马  

您好

根据您回复的信息、燃烧标记是否属于产品本身？ 这就是我们使用例外的原因吗？ 我们可以申请退货吗？

您好！

  是正确的、这些刻痕是有意通过激光修整进行的。

   我们的晶圆厂专家查看了该报告。 他们对饰件质量的评论是正常的、报告中的饰件不应存在问题。  

   我们想问一下总共有多少个器件处于生产状态、并且这些器件是否已经投产了5年、就像之前回复的那样？ 如果是、  25%的器件在生产后出现故障率还是这些器件是首次应用于批次生产？

谢谢！
西马  

为什么这些切割标记不在切割路径中而是在中间？ 目前已经使用了600片、缺陷率约为12%。 这个问题非常糟糕、因此我们希望您的公司能够帮助您找到问题的原因

您能帮助我再次确认我们在上一篇文章中提出的问题吗？ 谢谢！

您好！

 这是修整电阻的路径；修整量与电阻量相关。 就是存在大量缺陷。 我与我们的晶圆制造专家进行了交谈、他解释说这些饰件不应该是一个问题。  

  能够对一般的器件执行去耦测试的方面？ 我认为该报告仅显示了一个不好的部分第2单元。

谢谢！
西马  

那么、是什么导致了我们的测试报告中的分层？

您好！

 您是否指的是分层？ 我们的专家提到这是正常的、但如果我们可以在 SAM 测试和去电容测试中将 OK 单元与 NG 单元进行比较会有所帮助。

谢谢！

西马