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https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1312598/opa4h199-sep-radiation-question
此器件是否遇到需要下电上电的任何 SEFI 或只是瞬变？ 或者没有就此收集任何数据？ 谢谢
嘿、Lauren、
该器件的测试针对单粒子闩锁。
https://www.ti.com/lit/rr/sbok070/sbok070.pdf
我已提供上述 SEL 报告、该器件在125°C 下经证明在高达 LETEFF = 43MeV-cm2/mg 的条件下无 SEL。
如果您有任何进一步的问题、或者这足以回答您的问题、请告诉我。
此致！ 杰瑞
您好、Jerry、谢谢。 我看到该器件具有 SEL 容差、但没有瞬态或功能中断(如果发生辐射事件、可能需要下电上电)、正确吗？ 希望对此进行确认。
我没有看到瞬态或功能性中断的特定测试文档。 您能否提供一个包含这些测试供参考的器件示例？
当然。 此处的第25页： https://www.renesas.com/us/en/document/dst/isl71444m-datasheet?r=522426 或第12页 https://www.ti.com/lit/rr/slak024/slak024.pdf?ts = 1705015137443
您好、Lauren、
对于该器件、SEI 不适用、因为没有可导致中断的数字逻辑或寄存器。 您是否专门寻找 SET 测试？
是的、是否也有任何瞬态(SET)？ 感谢您对 NO SEFI/SEIS 进行了澄清
主要问题是是否有任何需要下电上电的故障？
对于 SEP、设置为可选测试、未在 OPA4H199-SEP 上执行。 设置的代码将出现在 QMLP 器件上。 我不知道是否能够肯定地说、没有事件需要下电上电、但是、需要让运算放大器下电上电的少数机制之一将是闩锁事件。
