This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] VFC110:VCF110卡 EMI/EMC 测试(包括浪涌测试):使用寿命缩短?

Guru**** 2387830 points
Other Parts Discussed in Thread: VFC110
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1322290/vfc110-vcf110-card-emi-emc-tests-including-surge-lifetime-expectancy-degradation

部件号:VFC110

你好  

我们有一些信号隔离器使用带光纤接口的 VFC110发货到法国。

我可以分享完整的 Ckt,如果你想要,但基本上是一个 TIA 后跟 V 到 F ,传输通过' FO

在接收端 A F 到 V 后、接巴特沃斯滤波器、电平转换为0-10到0-10V

在19英寸机架中插入多个卡,整个系统在230 V AC 电压下工作。

多个此类19英寸机架(带卡)已经过 EMI/EMC、IEC 61000系列 CE、RE 的测试  

和浪涌抗扰度。

都已成功通过这些测试、  

我们的客户担心浪涌测试是否会削弱 IC、例如 VFC110  

并且希望从马的嘴里得到一个积极的确认,所以可以说。

0-10V 输入在施加到 VFC110之前首先通过一个 TIA、因此任何浪涌都首先由 TIA 进行检测。

而且电源在设计中提供了充分的保护、使其能够通过这些测试。

有人是否能够确认 IC 未降级或其预期寿命有任何缩短  

IC 功能齐全、包括内部 Cos 和 Res.

谢谢。此

致、 瓦伦
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Varun:

    我们无法知道这些器件是否受到任何损坏。  瞬态条件会造成递增性破坏、而您的系统可能无法检测到这种破坏。  但是、只要没有违反绝对最大条件、就应该没有理由怀疑发生了任何损坏。

    您是否有用于浪涌测试的 IC 上电源电压和输入引脚的示波器图?  这将是一个很好的方法、以验证没有器件受到超过绝对最大电压的条件的影响。

    此致、
    迈克

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Mike、您好

    感谢您的快速回复。

    遗憾的是、我们没有 IC 的输入或 PS 引脚的示波器图、

    由于在测试期间、我们不允许处理 EUT。

    虽然 IC 似乎没有受到任何损害,但谨慎行事

    我们可能不会发送它们,但保留它们用于我们的内部测试和学习。

    再次感谢您 一如既往的及时回复

    瓦伦