This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
工具与软件:
您好!
我有一个具有单电源的运算放大器积分器级(VCC = 3.3V、VEE = 0V)。 运算放大器是 OPA320。
当我使用 TINA-TI 进行仿真时、积分器应该从饱和状态(从0V)出来时、我看到一个大约5.2us 的延迟时间。
在 OPA320数据表中、我可以看到过载恢复时间为100ns。
这段很长的恢复时间可能是什么原因?
谢谢、此致、
帕特里克
模型通常不会将恢复时间仿真为非常非线性的事件-这就是许多模型中忽略关闭功能的原因。
Michael、
在这个特定的模型中、它被执行:(至少应该是...)
*
*型号使用说明:
* 1. 已对以下参数进行建模:
* a.开环增益和相位与频率间的关系与 RL、CL 效应(AOL)
* b.单位增益带宽(GBW)
* C。输入共模抑制比与频率间的关系(CMRR)
* d.电源抑制比与频率(PSRR)
* E.差分输入阻抗(ZID)
* f 共模输入阻抗(zic)
* g.开环输出阻抗与频率间的关系(Zo)
* h。流经电源的输出电流(Iout)
* I.输入电压噪声密度与频率间的关系(en)
* J.输入电流噪声密度与频率间的关系(in)
* K.输出电压摆幅与输出电流(Vo)间的关系
* L.短路输出电流(ISC)
* m。静态电流(Iq)
* n 建立时间与电容负载(ts)
* O.压摆率(SR)
* p.小信号过冲与电容负载的关系
* q。大信号响应
* r.过载恢复时间(tor)
* s。输入偏置电流(Ib)
* t。输入失调电流(IOS)
* u.输入失调电压(Vos)
*与输入失调电压的关系与温度间的关系(Vos 漂移)
*带有输入共模电压范围(VCM)
x。输入失调电压与输入共模电压间的关系(Vos 与 VCM)
* y.输入/输出 ESD 单元(ESDin、ESDout)
但我认为它和我在以下主题中找到的主题一样(?)
https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/206297/fast-overdrive-recovery-time-of-opa699
此致、
帕特里克
很容易就可以说您对其进行了建模、但实际上、物理和仿真恢复时间与外部配置非常相关、您无法获取模型中的所有这些条件-除非您使用全晶体管级 Cadence 模型、而且对于客户模型、没有人能做到这一点。 我确实使用的 OPA699包含一个有源输出限制级、该级防止所有内部节点饱和、从而使这种现象在物理上更可靠、但仍然难以建模。
Patrick、您好!
您认为 OPA320的过载恢复时间建模是正确的。
请参阅下文当模型配置在数据表测试条件下时、恢复时间为~100ns、如规格表中所定义。
对于 电路配置、如果您直接在反相输入引脚上探测电压、则会看到引脚电压并没有立即变为0V、就像仅观察 VM 节点时出现的那样。 这是由输入电阻器和积分电容器的 RC 时间常数造成的。
当放大器满贯到负轨时、它无法恢复、直到反相引脚电压小于同相引脚处的电压。 您应该测量从反相引脚电压小于1.65V 时的恢复情况、在这种情况下得出的值为~200ns。 与数据表规格略有不同的原因是电路配置和输入电压变化速度较慢。 正如 Michael 所指出的、恢复时间是非线性事件、很难对完全匹配器件进行建模、但在本例中、我认为我们可以看到非常合理的近似值。
我在下面附上了这些仿真供您参考。
e2e.ti.com/.../OPA320_5F00_RecoveryTime.TSC
e2e.ti.com/.../OPA320_5F00_RC_5F00_Recovery.TSC
此致、
扎赫