工具与软件:
LMV331IDCKR 输入阻抗异常、接地电阻约为100R。
我们的电路如下所示:

IN-也连接测试 MCU 输出 IO (0~3.3V)。
哪种情况可损坏 IN -到低阻抗?
谢谢!
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感谢您的发布、很抱歉听到您的体验。
希望我们能为您提供更多帮助、但我认为您的电路配置没有任何异常情况、会导致反相输入损坏。 您在描述的内容听起来像是电气过载、但可能是由于源与反相输入不同而导致。 该器件采用5V 工艺开发、因此如果意外出现高于绝对最大额定值的电压短路(正向或负向)、这可能会在您遇到电气过应力。 我看到了接地屏蔽、因此我假设附近有一些可能较高的电压源、可能会造成伤害。 针对任一输入的最佳保护形式为串联电阻、以防止意外发生情况。 如果您将来继续发现类似的故障、建议尝试探测不同的引脚以查看是否发生了一些高压意外耦合。
卡盘
绝对最大额定值禁止电压低于 GND 或高于 VCC +。 这意味着存在此类钳位二极管(流过这些二极管的无限电流会使它们受损)。 但请注意、这些二极管仅适用于自动制造期间发生的 ESD 事件;如果信号线可以被人触摸、则需要更多的保护。
(许多数据表都指定了二极管电流限值。 LMV331数据表中没有此类信息、但这对于正常运行无关紧要。)
如果只有 IN−引脚损坏、那么该引脚上很可能会发生 EOS。 "连接至测试 MCU"是否意味着您确实连接了某些器件、并且您触碰了它、或者连接已热插拔? 如果是、那么我会假设存在 ESD、并且在正常运行期间不会发生此问题。
您好、
正如 Clemens 所说、 电压范围受 VCC 限制、这意味着有顶部和底部钳位。 我们提供了介绍不同比较器输入类型的应用手册: 比较器输入类型(TI.com)