工具与软件：
您好！
随函附上部分填充的故障分析报告。 请通读有关问题的文档。
期待收到您的回复。
此致、
Kavindu
e2e.ti.com/.../AER007FR020-Failure-Analysis-Interim-Report-SEMI008690-06SEP24.pdf
Kavindu,
在分析问题之前、我需要先了解我在看什么。 我不清楚您的图显示的是输出还是 IB 不稳定-见下文。 请 告知水平轴的时序是多少(温度变化的速度)以及客户如何实际控制(变化)温度？ 它们是使用热流、温度室还是其他设备？ 另外、 如果他们使用温度烘箱、是否利用氮气净化在低温下去除水分？
尊敬的 Marek：
感谢您的答复。 该图实际上是我们转换为工程单元的传感器的输出、它与 XTR116的4 -20 mA 电流环路输出成正比。 但是、我已经通过转换回实际的电流输出、在下面清楚地说明了这一点。 时间轴也会清晰显示。 这基本上是在可以加热和冷却的环境室内完成的。 不进行氮气净化、但我可以确保在现阶段、PCB 封装在传感器外壳中、而传感器外壳是完全密封的、因此这种影响不是由冷凝水造成的。
如果您需要更多详细信息、请告诉我。
此致、
Kavindu
您是否认为该图是如下所示配置中 XTR116的输出？
或者、XTR116的输出被转换为电压并馈入基于 OPA333的仪表放大器、如下所示？
在这两种情况下、问题似乎都是由射频干扰(RFI)引起的、报告中似乎没有考虑到这一点：
XTR116数据表中有一节专门针对电流环路中可能导致射频拾取的长导线发出警告、该导线随后由 XTR116的输入电路或上一级进行整流、从而导致输出电流不稳定-见下文。 射频本身可能会 由 烤箱内吹出的冷空气或热空气组成。
尊敬的 Marek：
还可以 但是、在继续之前、请告诉我您是否可以在报告的第7节(附录)中找到原理图的附件？
在该图中、放大器馈送 XTR116、而图是 XTR116输出。
此致、
Kavindu
Kavindu,
我找到了它、但无法打开报告附录第7节中的 PDF 附件(见下文)。
但是、根据您随附的原理图、故障排除的第一件事是使用示波器探测 Vin -如下所示。
简单来说、在90°C 和-55°C 温度下没有问题、但在70°C 温度下会变得不稳定。 实际上、考虑到我们查看200 min/div 标度、它不是不稳定、而只是直流变化。 因此、我们实际上需要在70摄氏度间隔内对 TP6进行示波、以查看是否存在任何实际振荡。
如果在上面蓝色椭圆形中所示的时间段内 TP6没有振荡、则客户需要 在上述时间 间隔内测量输入 T3和 T4的任何变化。 如果它们显示变化、则需要测量 U2和 U8的输入-请参阅下面的。 换句话说、它们需要弄清是什么导致 TP6在所述时间段内发生变化。
尊敬的 Kavindu：
添加到 Marek 的评论。
现在不清楚"REF"基准是什么。 在 XTR116 2线电流变送器中、IREF、引脚3或 REF 节点应悬空。 我认为它是浮动的,如图所示,但不清楚。
第二个观察结果是：REF 的位置很少、并且会与多个组件共享。 在无输入条件下、引脚4处的 IO 电流应< 3.6mA (以下原理图中 XTR116处的 Vin 应包含无输入信号、且 IO < 3.6mA)。
在无输入条件下、XTR116的当前预算(Vreg + Vref)不应超过3.6mA。 由于原理图中提供了所有的 REF 基准、因此我想问是否已超出此要求。 换句话说、XTR116无法在空载条件下驱动这么多组件。 它 XTR116的 PIN8和 pin1的电流过载、然后2线制发送器将无法正常运行并支持从输入到4 -20mA 的 V-I 转换。
如果您有其他问题、请告知我们。
此致！
Raymond
您是否认为使用示波器探测时、输入(请参阅下面的箭头)完全干净、但输出 TP3不稳定？
此外、REF 是接地还是由 XTR116的 Vref 引脚1驱动？ 如果是后一种情况、 您应该将所有旁路电容器连接至系统接地、而不是 XTR116的 Vref、这有可能创建多个具有不可预知结果的信号环路、正如您看到的那样。
