工具与软件：
尊敬的专家：
用户对此应用手册有疑问：
图5-1 (第8页)：
问题：TI 使用哪种测试电路进行输入失调电压测量、具体取决于运算放大器的共模电压。
如果理解正确、他担心的是通过改变被测器件输入端的共模电压、VCM 将在器件的输出端与放大的失调电压一起显示。 然后、为了获得输入失调电压、我必须从输出中减去设置的 Vcm。 这会带来一个我们不知道该怎么做的问题。 此外、请注意、器件的 VCM 可以通过对称电源轨来更改。
好奇 TI 如何执行该测试。
感谢您的帮助。
此致、
阿奇·A·.
您好、Archie：
[报价 userid="487726" url="~/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1461203/opa2991-common-mode-testing-circuit ] TI 使用哪种测试电路来测量输入失调电压(取决于运算放大器的共模电压)。[/QUOT]下图是 ATE 实现中的 twi 标准 Vos 测试方法。 还有其他变体、例如上面提供的变体。 通过切换继电器开关、一个电路可以在 ATE 屏幕测试期间测量不同的运算放大器 DUT 参数。
我最近回答了类似的问题、见下面的链接。
https://www.edn.com/the-basics-of-testing-op-amps-part-3-configurable-circuit-tests-op-amps/
https://www.edn.com/the-basics-of-testing-op-amps-part-4testing-op-amps-requires-stable-test-loops/
然后、要获得输入偏移电压、我必须从输出中减去设定的 Vcm。
在差分放大器拓扑中、Vout = gain*(Vin+- Vin-)、因此按照设计、将从差分放大器中减去 VCM、这样它就不会输入传递函数。 然而、VCM 变化可能会略微影响 Vos、但这通常会绘制并出现在数据表中。
如果您有其他问题、请告知我们。
此致！
Raymond
