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[参考译文] OPA2196:OPA2196IDR 可靠性测试数据

Guru**** 2502205 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1465959/opa2196-opa2196idr-reliability-test-data

器件型号:OPA2196

工具与软件:

您是否具有适用于 OPA2196IDR 的加速测试数据? 

此致;

长冈耕平

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    Kohei,

    • 您可以使用此链接查看有关器件认证的详细信息:  认证摘要.  我粘贴了以下结果。
    • HTOL 测试在125°C 下进行1000小时。  本视频介绍了通过此测试的标准:   工程师--长期了解运算放大器 
    • 总之、HTOL 查看1000小时内的变化。  125°C 下1000小时的寿命相当于25°C 下10年的寿命。  该测试对以零为中心的规格使用不同的标准(例如 Vos ),而对以绝对值为中心的规格(例如 IQ )则使用不同的标准。
      • 对于零中心限制、在整个生命周期内、分散宽度可以移动100%(或双倍)。  因此、如果输入失调电压限值为-1mV < Vos <+1mV、那么在寿命测试之后可以转换到 -2mV < Vos <+2mV
      • 对于以绝对值为中心的值、该限制可以漂移 ±20%。  因此、如果静态电流规格为1mA < IQ < 2mA、则寿命测试限制将为0.8 < IQ < 2.4mA。   
      • 我建议观看上面的视频链接、了解有关如何运行 HTOL 测试的更多详细信息。

    我希望这对您有所帮助。  此致、艺术

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    Kay-San

    谢谢!

    非常好。

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    很乐意提供帮助。

    此致、艺术