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[参考译文] JFE150:噪声密度与漏源电流间的关系

Guru**** 2426460 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1472837/jfe150-noise-density-versus-drain-source-current

器件型号:JFE150

工具与软件:

嗨、团队:

图6-11以输入为基准的噪声频谱密度与漏源电流间的关系
在图6-11中、为什么当漏源电流为7mA 或更高时输入参考噪声会变得更糟?
我的印象是、施加的电流越大、噪声就越好、但我想知道导致噪声恶化的因素。

此致、
柳。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好 Ryu、  

    芯片的温度随着 IDS 的升高而升高、因此您观察到的拐点处的热噪声会增加。 将漏源通道视为一个电阻器。 随着温度升高、电阻器的热噪声会随着约翰逊-奈奎斯特理论的发展而升高。

    此致、  
    Chris Featherstone