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[参考译文] TMS570LC4357-SEP:筛选和资格认证。 TMS570LC4357-SEP

Guru**** 2379540 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1508212/tms570lc4357-sep-screening-and-qual-for-tms570lc4357-sep

器件型号:TMS570LC4357-SEP

工具/软件:

大家好、  

Lockheed 希望将该微控制器用于其 LM400卫星程序、我们正在寻找对该器件执行的筛选和鉴定测试。  看起来没有进行老化处理、释气是、温度循环和 HAST 在批次级别、但我没有看到太多其他。

请告诉我、我们希望符合 EEE-INST-002 3级要求、或者证明未达到要求的原因是可以的。

谢谢、  

Gino Filippi  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Gino、

    除了 我们正常测试和可靠性监测器之外、您列出的 SEP 要求也是对 EP 分级添加的要求的补充。  

    我们需要验证这一点、但由于 TMS570器件是遵循 AECQ100流程的汽车级器件、我会怀疑-SEP 型号也遵循此流程/标准。

    看起来我们需要从测试/可靠性/质量方面获取一些有关 TI 标准制造流程的信息、以便向客户传达-SEP 的全套要求。

    您是否对 TI 的其他-SEP 器件有经验?它们是如何传达此信息的?

    此致、

    Matthew