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部件号：MSPM0G1507工具/软件：
您好：
我在 MSPM0G1507 上对温度传感器进行采样、并且在将 ADC 读数转换为温度时遇到一些问题。 ADC0 通道 11（温度传感器）上的我的 ADC 值在室温下约为 1760。 从 FACTORY 区域读取的修整值为 796。 进行计算时、可以得到以下结果：
性能参数
- 采样时间= 25us
- TEMP_SENSE0 = 796
- TSC =–1.8mV/ ℃（来自 slasew9d）
- TSTRIM = 30℃（从 slasew9d）
- VREF = 1.4V
- VREF_TRIM = 1.4V（来自 slasew9d）
- RES = 12 位
VSAMPLE =(1.4/4096)*(1760 - 0.5)≈0。 6014 V
VTRIM =(1.4 / 4096)*(796 - 0.5)≈0。 2719 伏
TSAMPLE =(1000/–1.8)*(0.6014 - 0.2719)≈–183.1℃
TRM 的 (slau846b) 1857 示例修整值提供了更真实的结果：
VTRIM =(1.4 / 4096)*(1857 - 0.5)≈0.6345V
TSAMPLE =(1000 /–1.8)*(0.6014 - 0.6345)+ 30≈48.39℃
以下是从 FACTORY 区域读取的值：
TRACEID：0x001D1D35
器件 ID：0x2BB8802F
用户 ID：0x804D2655
TEMP_SENSE0：0x0000031B
我还在另一个电路板上进行了测试、看看它是否是单个有缺陷的校准值、但我从 TEMP_SENSE0 寄存器中读取 795。 该器件用于定制电路板。
类似的问题似乎在使用早期样品、由一个空的 TRACEID 确定、但对我来说、情况并非如此。
根据 TRM 中的示例、修整值似乎是关闭的、但我不确定读数是否不正确？
谢谢、
变暗
