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[参考译文] MSPM0G3507:内部高速振荡器容差和放大器;老化

Guru**** 2874030 points

Other Parts Discussed in Thread: MSPM0G3507

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1587472/mspm0g3507-internal-high-speed-oscillator-tolerance-aging

器件型号: MSPM0G3507

尊敬的 Texas Instruments Forum,

 

我对 MSPM0G3507 MCU 有疑问。  数据表(第 7.9 章“时钟规格“)指出、如果内部振荡器以 32MHz 频率运行并进行出厂修整、并且频率校正环路、则可以实现一定的容差范围。

如果 MCU 保持在温度限值内、该容差范围是否会因老化而变宽(容差更大)? 或者、是否已经在数据表中指定的时钟精度中考虑了老化?

 

提前感谢您的支持!

 

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Marton:
    该器件符合 TI 的质量标准。 这意味着、即使在老化过程中、我们在数据表中的规格也应该保持一致。 您可以在本 网站中找到有关可靠性的更多信息

    此致、

    Diego Abad

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢您发送编修。我们会重新检视您的建议。 它澄清了我的问题。