[参考译文] TMS570LC4357：TMS570LC4357 安全库测试失败

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号： TMS570LC4357
主题中讨论的其他器件： HALCOGEN

好的一天、

我对安全库提供的一些安全测试有问题。遵循库给出的示例代码后、以下测试始终为我返回 false：

sl_SelfTest_sram ()

SL_SelfTest_PSCON ()

sl_Self Test_Memory 互连 ()

SL_SelfTest_VIM ()

sl_SelfTest_dma ()

SL_SelfTest_CCMR5F ()

是否有任何配置,例如在 Halcogen 中,我需要执行这些测试?

此致、

Joseph

0 admin 5 个月前

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您好、Joseph：

您还需要根据 SDL 演示应用程序更改 sys_intvecs.asm 文件。

我在下面发现了非常类似的问题、请参阅以下主题中的最后注释：

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此致、
Jagadish。

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）(Read Only)