“线程：测试， CC3200”中讨论的其它部件
您好，
我非常担心在尝试刷新 MCU 时出现的错误。
CortexR4：连接到目标时出错：(错误-1170 @ 0x0)无法访问 DAP。 重置设备，然后重试此操作。 如果错误仍然存在，请确认配置，重新启动主板电源，和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如，较低的 TCLK)。 (仿真包9.5.0.00143)。
我也给你发送了一份有关它的捕获：
当我验证与目标的连接时，我没有遇到任何问题。 当我想闪存时，就会发生这种情况。
[开始]
执行命令：
%cs_base/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile %-RV -o -F inform，logfile=yes -S pathlength -S integrity
[结果]
--- [打印主板配置路径名]-------------
C：\Users\Leandro \AppData\Local\TEXASI~1
CCs\ccs1100\0\0\BrdDA\testBoard.dat
--- [打印重置命令软件日志文件]-----------------
该实用程序已选择100或510类产品。
该实用程序将加载适配器“jioserdesusb.dll”。
图书馆的建造日期是'2021年10月8日'。
库构建时间为“13:26:36”。
库软件包版本为'9.5.0.00143'。
库组件版本为'35.35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为“4”(0x00000004)。
控制器的插入长度为“0”(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
--- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------
将通过切换 JTAG TRST 信号来重置扫描路径。
控制器是带 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为使用 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的正时。
控制器无法控制输入引脚上的正时。
扫描路径链路延迟已设置为“0”(0x0000)。
--- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]-----------
没有用于编程 JTAG TCLK 频率的硬件。
--- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的来源和频率]-----
没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
--- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试]-----------
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试成功。
JTAG IR 指令路径长度为6位。
JTAG DR 旁路路径长度测试成功。
JTAG DR 旁路路径长度为1位。
--- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试]-----------------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1，跳过：0，失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2，跳过：0，失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3，跳过：0，失败：0
使用0x01FC1F1D 执行测试。
扫描测试：4，跳过：0，失败：0
使用0x5533CCAA 执行测试。
扫描测试：5，跳过：0，失败：0
使用0xAACC3355执行测试。
扫描测试：6，跳过：0，失败：0
所有值均已正确扫描。
JTAG IR 完整性扫描测试成功。
--- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----------------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1，跳过：0，失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2，跳过：0，失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3，跳过：0，失败：0
使用0x01FC1F1D 执行测试。
扫描测试：4，跳过：0，失败：0
使用0x5533CCAA 执行测试。
扫描测试：5，跳过：0，失败：0
使用0xAACC3355执行测试。
扫描测试：6，跳过：0，失败：0
所有值均已正确扫描。
JTAG DR Integrity 扫描测试成功。
[结束]
此致，
莱安德罗
