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[参考译文] TM4C123GH6ZXR:Cortex_M4_0:连接到目标时出错

Guru**** 657930 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1097956/tm4c123gh6zxr-cortex_m4_0-error-connecting-to-the-target

部件号:TM4C123GH6ZXR

我正在尝试使用ICDI调试器工具将新目标PCBA连接到未编程的设备,并收到错误消息:Cortex_M4_0:连接到目标时出错。

我检查了以下内容:

VDD,VDDA,VDDAREF,VDDC电源信号电平正常。

振荡器信号电平正常。

重置信号正常

ICDI使用TM4C123AH6PMI器件和相同振荡器连接到几乎相同的目标,没有问题。

连接到目标器件时的JTAG信号:

TCLK激活

TMS低

传输的TDI数据包

TDO 保持逻辑高。

复位保持逻辑高电压(2.8V)

对要 检查或尝试的其他项目有任何建议?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好,

     您是否有另一个调试探测器(例如 XDS100,XDS200),您可以使用它来验证您是否可以连接到主板? 如果另一个调试探测器可以连接到目标,则可能是您的ICDI与目标的连接存在问题 ,或者ICDI本身存在问题。 如果另一个调试探头无法连接到目标,则更多是板级问题。 有关JTAG故障排除的信息,请参阅此应用手册中的第6节。 https://www.ti.com/lit/pdf/spma075。 最后,您是否有任何理由不使用独立调试探测器(如XDS100或XDS200)来调试目标? 这些都是低成本的探头,非常实惠。 如果我的理解是正确的,则您使用LaunchPad中的ICDI调试带蓝色线的自定义板。 我认为这不是长期调试的最佳解决方案。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    使用测试连接从USB100v2输出

    [开始:德州仪器(TI) XDS100v2 USB调试探头_0]

    执行以下命令:

    %ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile -RV -o -f inform,logfile=yes -S pathlength -S完整性

    [结果]


    ——— [打印主板配置路径名]------------------

    C:\Users\MTETME~1.AME\AppData\Local\TEXASI~1\
    cc\css1120\0\BrdDat testBoard.dat

    ——— [打印reset-command软件日志文件]------------------

    该实用程序选择了100/110/510类产品。
    该实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
    图书馆的建造日期为'Mar 172022'。
    库的构建时间是'15:43:48'。
    库软件包版本为9.7 .0.0.0213万。
    库组件版本为35.35 .0.0。
    控制器不使用可编程FPGA。
    控制器的版本号为'4'(0x0.0004万)。
    控制器的插入长度为'0'(0x0万000000)。0万。
    此实用程序将尝试重置控制器。
    此实用程序已成功重置控制器。

    ——— [打印reset-command hardware log-file (重置命令硬件日志文件)]------------------

    扫描路径将通过切换JTAG TRST信号重置。
    控制器是FTDI FT2232,带USB接口。
    从控制器到目标的链路是直接链路(不带电缆)。
    该软件配置为支持FTDI FT2232功能。
    控制器无法监控EMU[0]引脚上的值。
    控制器无法监控EMU[1]针脚上的值。
    控制器无法控制输出引脚上的正时。
    控制器无法控制输入引脚上的正时。
    扫描路径链路延迟已完全设置为'0'(0x0000)。

    ——— [从PLL生成的JTAG TCLK输出的日志文件]-------

    没有用于对JTAG TCLK频率进行编程的硬件。

    ——— [测量最终JTAG TCLKR输入的源和频率]-------

    没有用于测量JTAG TCLK频率的硬件。

    ——— [在JTAG IR和DR上执行标准路径长度测试]-----------

    此路径长度测试使用64个32位字的块。

    JTAG IR指令路径长度测试失败。
    JTAG IR指令扫描路径为卡在一个位置。

    JTAG DR旁路路径长度测试失败。
    JTAG DR旁路扫描路径为卡在一个位置。

    ——— [对JTAG IR执行完整性扫描测试]---------------

    此测试将使用64个32位字的块。
    此测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF执行测试。
    扫描测试:1,跳过:0,失败:0
    使用0x0万执行测试。
    测试2字0:扫描0x0万并在0xFFFFFFFF中扫描。
    测试2字1:扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
    测试2字2:扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
    测试2字3:扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
    测试2字4:扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
    测试2字5:扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
    测试2字6:扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
    测试2 Word 7:扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
    已提供前8个错误的详细信息。
    实用程序现在只报告失败测试的计数。
    扫描测试:2,跳过:0,失败:1
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试:3,跳过:0,失败:2
    使用0x01FC1F1D执行测试。
    扫描测试:4,跳过:0,失败:3
    使用0x5533CCAA执行测试。
    扫描测试:5,跳过:0,失败:4
    使用0xAACC3355执行测试。
    扫描测试:6,跳过:0,失败:5
    某些值已损坏- 83.3 Percent (默认值百分比)。

    JTAG IR完整性扫描测试失败。

    ——— [在JTAG DR上执行完整性扫描测试]------------------

    此测试将使用64个32位字的块。
    此测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF执行测试。
    扫描测试:1,跳过:0,失败:0
    使用0x0万执行测试。
    测试2字0:扫描0x0万并在0xFFFFFFFF中扫描。
    测试2字1:扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
    测试2字2:扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
    测试2字3:扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
    测试2字4:扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
    测试2字5:扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
    测试2字6:扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
    测试2 Word 7:扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
    已提供前8个错误的详细信息。
    实用程序现在只报告失败测试的计数。
    扫描测试:2,跳过:0,失败:1
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试:3,跳过:0,失败:2
    使用0x01FC1F1D执行测试。
    扫描测试:4,跳过:0,失败:3
    使用0x5533CCAA执行测试。
    扫描测试:5,跳过:0,失败:4
    使用0xAACC3355执行测试。
    扫描测试:6,跳过:0,失败:5
    某些值已损坏- 83.3 Percent (默认值百分比)。

    JTAG DR完整性扫描测试失败。

    [结束:Texas Instruments XDS100v2 USB调试探头_0]

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    好的,你的扫描链有点破损。 不确定是什么问题。  这是我的建议。

     -将 您的原理图与另一个已知有效的原理图进行比较。  

     -您是否有相同类型的另一个主板? 这是隔离板问题还是同一类型的所有板都有此问题? 如果所有主板都有此问题,那么这肯定是主板级设计问题。 如果这只是一个电路板的问题,那么您可能需要检查MCU是否损坏。 当你从LaunchPad上的ICDI硬插入目标板时,我不知道它是否会引发一些EOS (电过度应力)事件。