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[参考译文] TMS570LC4357-EP：辐射测试

admin
Guru**** 2457760 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357, LAUNCHXL2-570LC43, TMS570LC4357-SEP

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1114979/tms570lc4357-ep-radiation-test

器件型号：TMS570LC4357-EP
主题中讨论的其他器件：TMS570LC4357、 LAUNCHXL2-570LC43、 TMS570LC4357-SEP

您好！

是否可以获得测试报告的详细信息？

此致、

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    TI__Guru**** 2457760 points
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    您好、Pablo、

    我不确定我们是否会披露辐射测试报告。 但我将为您进行检查。

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    TI__Guru**** 2457760 points
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    您好、Pablo、

    -EP (增强型产品)：我们没有 EP 器件的辐射测试。  

    -SEP (航空航天)： 执行辐射测试。

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    TI__Guru**** 2457760 points
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    您好 、QJ Wang、

    很抱歉 我出错了。  MCU 是使用 launchxl2-570LC43的 TMS570LC4357。

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    TI__Guru**** 2457760 points
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    您好、Pablo、

    Launchpad 上使用的器件是汽车级器件、但不是-EP 和-SEP 器件。  

    EP 器件支持~55至125度的扩展温度范围。

    BTW、TMS570LC4357-SEP 尚未发布。