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大家好、团队、
我代表我的客户发布。 请参阅以下查询:
尝试使用 XDS110调试探针对 RM57定制板进行调试时遇到错误。
详细信息:
-使用 Hello World 程序进行测试
- JTAG 测试连接成功
-如果加载了一个版本构建、则可以使用另一个构建对 MCU 进行编程、而不会出现错误
- 如果加载了调试构建、并且 我尝试加载程序、那么我会得到以下错误:
"[ERROR] DAP:连接到目标时出错:(错误-1170 @ 0x0)无法访问 DAP。 重置设备、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、较低的 TCLK)。 (仿真包9.7.0.00213)"。
在正确的时间按下热复位热复位按钮后、日志显示:
"CortexR5:GEL 输出:闪存的存储器映射设置@地址0x0CortexR5:GEL 输出:闪存的存储器映射设置@由于系统复位而产生的地址0x0"
- 如果我在调试器中点击"Resume"、则开始重复以下操作:
"CortexR5:错误:(错误-1170 @ 0x0)无法访问 DAP。 重置设备、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、较低的 TCLK)。 (仿真包9.6.0.00172)
其他故障排除步骤:
-我查看了此网页 :https://software-dl.ti.com/ccs/esd/documents/ccs_debugging_jtag_connectivity_issues.html 、但"a procedure to try and unlock a Hercules device is desced in this e2e forum thread中介绍了该链接。" 显示未找到页面的错误。
-我检查了我的电压监控器,它们似乎没有触发电源复位
-将 JTAG 时钟速度降至最低(100kHz)
-启动目标配置似乎已成功连接、然后当我点击"Run"时、它会重复错误-2064和-1170
我不确定是否需要使用新芯片完成一些初始解锁过程才能使它们进入调试模式(我知道其他 MCU 也是如此、但我没有为 Hercules 找到它)。 是否有针对新芯片的初始编程说明? 我不认为这是一个电源问题、因为电压监控器未触发、并且 JTAG 测试成功。 如果它是硬件错误、那么它可能是什么?
JTAG 测试连接日志:
[开始:德州仪器 XDS110 USB 调试探针]
执行以下命令:
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -S 完整性
[结果]
---- [打印电路板配置路径名]---------------
C:\Users\Lesley\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
ccs1110\0\BrdDat\testBoard.dat
---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------
此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioxds110.dll'。
库构建日期为"DEC 8 2021"。
库构建时间为'11:16:32'。
库软件包版本为'9.6.0.00172'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'5'(0x00000005)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------
扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 XDS110。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 XDS110功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试:2、跳过:0、失败:0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:0
所有值均已正确扫描。
JTAG IR 完整性扫描测试成功。
---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试:2、跳过:0、失败:0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:0
所有值均已正确扫描。
JTAG DR 完整性扫描测试成功。
[结束:德州仪器 XDS110 USB 调试探针]
此致、
Renan


