主题中讨论的其他部件:TM4C123、 EK-TM4C123GXL、 SEGGER
我正在将 TM4C123设计更新为 TM4C129、并尝试在该过程中尽可能多地进行改进。 到目前为止、我们使用了 EK-TM4C123GXL 的 ICDI 调试器来加载软件和调试(单步、设置断点、查看存储器等)。 我们使用具有自定义引脚的 Tag-Connect 电缆、该引脚包括用于目标的 UART0信号、复位和电源。 它为我们提供了很好的服务、但我想知道我们在调试器速度和跟踪功能方面还有什么要做的。 因此、我想知道我们应该切换到还是添加不同的调试连接器、以及哪些调试器硬件可以让我们利用新功能。
我一直在查看 XDS110和 XDS200。 看起来,它们使用0.05英寸间距的20引脚 TI CTI 连接器和引脚排列,以及用于其它连接器的适配器。 我在 TM4C129电路板上看到的大多数示例似乎都使用0.05英寸间距的10引脚 Cortex 调试连接器,这省略了许多信号。 我会通过将较小的连接器与这些调试器中的任何一个配合使用而放弃什么? 您似乎可以使用任何 XDS 调试器(但不使用 ICDI)访问嵌入式跟踪宏单元(ETM)。 [校正:XDS110可以访问具有 ETB 的 MCU 上的 ETB、而不是 ETM;TM4C129不能访问 ETM。] ETM 是否在 CCS 中提供回溯功能(崩溃后)?
与 TM4C129搭配使用时、XDS200是否比 XDS110具有显著优势? 我看到它具有有效的 JTAG 时钟、而 XDS110没有、但我认为 TM4C129无论如何也不支持。 即使没有活动的 JTAG 时钟、XDS200也更快吗? 这是加载软件时的一个大优势,还是加载时间已经由 MCU 闪存在传输后进行编程所需的时间决定? XDS200是否具有功能优势?
如果我们跃进 XDS560v2、20引脚连接器是否支持它将提供的所有附加功能、或者是否需要60引脚连接器? 或者 TM4C129根本不支持这些功能?
谢谢、
Steve
