请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：TMS570LC4357 大家好、团队、
在诊断测试模式中：DIAGMODE = 7 用于检查 ECC 功能、如步骤5中所述。使用 FDIAGCTRL 寄存器中的 DIAG_BUF_SEL 位选择需要翻转的相应端口。 对于端口 A、只有合法值为0、对于端口 B、只有4小时
我通过写入 flashWREG -> FDIAGCTRL |= 0x400来选择端口 B。
进行下一步操作 6. 对所需地址执行端口 A 或 B 读取、
- 此处提到的目标地址是什么？ 它是闪存 ECC 地址范围0xF0000000至0xF047FFFF 吗？
- 如何将端口 B 读取到该地址？ 请提供一个示例？
此外、在步骤1中。 分支到一个非闪存区域以执行这个序列。
被称为非闪存区域的内容。 哪种地址范围是指这种情况？
