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[参考译文] TMS570LC4357：测试 LPOCLKDET 安全诊断

admin
Guru**** 2455560 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1158379/tms570lc4357-testing-lpoclkdet-safety-diagnostic

器件型号：TMS570LC4357

我目前正在通过 TMS570安全手册实施诊断： https://www.ti.com/lit/fs/spnu540a/spnu540a.pdf?ts=1651560895571&ref_url=https%253A%252F%252Fwww.google.com%252F

具体而言、我对 本手册中测试低功耗振荡器时钟检测器(LPOCLKDET)诊断的可行性非常好奇。 是否有一种方法可用于触发时钟振荡器故障并验证此诊断的 ESM 行为？

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    TI__Guru**** 2455560 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Mathew：

    LPOCLKDET 用于检测 主时钟振荡器的故障。 在 上电复位状态期间、LPOCLKDET 电路默认被启用。  

    您可以手动将振荡器或晶体短接至 GND、以生成 OSC 故障。

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    TI__Guru**** 2455560 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    为了澄清、此测试需要更改硬件、无法通过软件完成？

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    TI__Guru**** 2455560 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    否、无法通过软件强制发生 OSC 故障。