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[参考译文] TMS570LS3137：ADC 中的预期校准误差

admin
Guru**** 2564565 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS3137

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1158356/tms570ls3137-expected-calibration-error-in-adc

器件型号：TMS570LS3137

您好！

我将 TMS570LS3137用于安全相关项目、尽可能指定所有错误非常重要。 数据表显示了失调电压、增益、INL 和 DNL 的误差、但我假设总未调整误差不包括校准误差。 SPNU499C 的第19.8节 介绍了校准过程、该过程似乎能够很好地校正上述电阻器不匹配、但校准后没有有关误差的数字。 我也找不到任何提及温度漂移或其他性能方面可能影响采集误差来源的文档。

我是否缺少任何有关该 ADC 性能及其校准的文档？ 或者至少可以将一个值用作校准后的最大误差？

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    TI__Guru**** 2564565 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Gustavo、

    我会收到您的查询、并为您检查规格。  

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    TI__Guru**** 2564565 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    只有在已执行校准的情况下、3137的 TUE 在12位模式下为+/- 4 LSB。 正确、TUE 不包括校准。  

    数据表中列出的所有误差(失调电压、增益、DNL、INL 等)均适用于建议工作温度范围内的所有温度：-40°C 至125°C