[参考译文] TMS570LS3137-EP：TMS570ls3137电子保险丝模块

您好、Subash、

有一个电子保险丝阵列用于配置影响闪存组、闪存泵和片上多个 SRAM 实例的各种电气参数。 该电子保险丝阵列在器件的出厂测试期间进行编程、并在加电时作为器件启动序列的一部分进行扫描(不是软件控制的)。 这个过程被称为"eFuse 自动加载"、并且执行了 SECDED 逻辑来校正任何单位错误并在这个自动加载期间检测双位错误。 在这个自动载入过程中的任何错误被标记在适当的 ESM 状态寄存器中。

HALCoGen 生成的 efcCheck()例程用于确保此 SECDED 逻辑的正确操作。 这对于确保正确完成电子保险丝自动加载以及用于校正任何单个位错误的 SECDED 逻辑也正常运行至关重要。

QJ、您好、如果我要坚持我的观点、我有几个意见、因为这是我一直在研究的一个领域、以便为我的项目实现所需的 SIL：

1.  TMS570ls1224的 HALCoGen 编码确实提供 了 efcCheck()函数，但这不是从 gen'ed 启动代码调用的；我假设_c_int00() fn 需要更新以调用  efcCheck()，作为从复位恢复的一部分。 <PLEASE CONFIRM
2. 我注意 到 efcCheck() fn 调用  efcSelfTest()，但这并不是全部存在，因为  efcSelfTest()返回 void，所以 无法通过 efcCheck()来检查结果； 通过查看 TRM (SPNU515C)、可以看到33.3.2.5部分的内容、"应用程序可以查询地址 0xFFF8C02C 处引脚寄存器的位15以等待测试完成。" 我注意到，此轮询是由 checkkefcSelfTest() fn 完成的(同样，在我的编码中当前没有调用)；我不清楚为什么对 checkkefcSelfTest()的调用尚未合并到  efcSelfTest()或  efcCheck()中，但我认为 需要对 checkkefcSelfTest()进行调用。 <PLEASE CLARIFY  

Marcus

1.如果在 HALCoGen "safety init"窗口中选中了"Enable EFUSE Self Test"、则_c_int00 ()应该调用此函数。 这是 HAL 软件错误。 需要将 efcCheck()和 checkkefcSelfTest()手动添加到_c_int00()。

2. 需要单独调用 checkkefcSelfTest()。  

您好、感谢您的澄清。  我不熟悉此项目、因此不知道选择了哪些选项来生成 HAL 代码、但最好确认我的假设、即需要手动更新。

刚才有一个“令人讨厌的想法”：在你对 Subash 的答复中，你说：  

如果电源保持开启状态但 nPORRST 有效(例如 TPS65381看门狗报告错误)、TMS570是否会执行此扫描？

Marcus

您好、Marcus、

是的。 每当 nPORRST 有效时、eFuse 值被读取并载入内部寄存器。

尊敬的 QJ/Marcus：

非常感谢您的意见。 加电时、当我们检查 ESM 寄存器(ESMSR4 ESM 状态寄存器4 - FFFF F558h)时、尽管 电子保险丝状态寄存   器(EFCERRSTAT - FFF8 C000)为零、它仍然显示错误。 根据相对于 eFuse 状态的 TRU ESM 状态寄存器设置。 请告诉我这种冲突的原因吗？

我已附加这些寄存器值的快照。

您好、Subash、

ESM 1：40和 ESM 1：41也可通过卡在零测试进行设置。  卡在零测试用于测试电子保险丝控制器和 ESM 模块之间的连接。 在卡在零测试后、ESM 错误应该被清除。

您是否执行了卡在零的测试？ 或者、您是否在0xFFF8C01C 对 EFC EFCBOUND 寄存器进行了编程？

您好 QJ、

我们正在执行滞留在零的测试、测试成功通过、随后我们将按照 TRM 执行以下步骤：

 •将0x00000258写入地址0xFFF8C048的自检周期寄存器(EFCSTBY)。
 •将0x5362F97F 写入地址0xFFF8C04C 的自检签名寄存器(EFCSTSIG)。
 •将0x0000200F 写入地址0xFFF8C01C 的 BOUNDARY 寄存器。  

我们将轮询  0xFFF8C02C 的位15、完成后、我们将看到  ESM 1：40正在被置位、但 电子保险丝状态寄存器(EFCERRSTAT - FFF8 C000) 为零。 请告诉我们此问题的根本原因吗？

谢谢、

Subash

停留在零测试不会设置 EFC 状态寄存器的任何位。 EPC 引脚寄存器的相应位被置位。

您好 QJ、

根据 TRM 第32.3.2.5节中提到的第4点、ECC 逻辑自检完成后、ESM 组1的通道40和41都不应置位。

根据 TMS570LS3137数据表中的表6-35、当 EFC 错误状态寄存器(EFCERRSTAT)中的任何位被置位时、ESM 组1通道40被置位。

我已附上寄存器值快照供您参考！

谢谢、

Subash

您好、Subash、

两者都正确。 但32.3.2.5中的描述不清楚。

如果自检失败、ESM 1.41将被置位。

32.3.2.5想说、如果测试通过、 ESM 1.41不会被置位。