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[参考译文] RM44L520：CLKTEST

admin
Guru**** 2382480 points
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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/974315/rm44l520-clktest

器件型号：RM44L520

各位同事、大家好！

我有一个客户关于 RM44L520的问题。 他使用最新版本的 TRM 来实现 RM44Lx、SPNU608A、2018年3月。

实际上、它无法将主系统控制寄存器中的 CLKTEST、SEL_ECP_PIN 位寄存器设置为大于0x0F。 我想将 VCLK4输出到 ECLK、但无法执行该操作。 将0x00050015写入 CLKTEST 会将 HF LPO 时钟输出到 ECLK 上、并读回 CLKTEST。SEL_ECP_PIN 会显示值为0x05、而不是预期的0x15。 出什么问题了？

谢谢、

Daria

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    TI__Guru**** 2382480 points
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    您好、Daria、

    请确保测试板上的器件是 RM44Lx。 其他器件(例如 RM46Lx)仅支持 ECLK 上高达0xF 的信号源。  

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    TI__Guru**** 2382480 points
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    您好！

    是的、器件为 RM44L520。

    Daria

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    TI__Guru**** 2382480 points
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    谢谢 Daria、

    我刚刚检查了。 CLKTEST 的第4位被保留用于 RM44Lx 器件、所以只能为 ECLK 输出选择时钟信号 μ 0~15。 很抱歉、RM44x 数据表和 TRM 中的拼写错误。