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器件型号：TMS570LC4357-EP 您好！
我选择的是将连接到 TMS570 EMIF 的并行 NOR 闪存。 目前、我正在 EMIF 和闪存器件之间进行交流分析。 我是指 SPNU563A 的第21.4.2.2.1节。
我有以下问题、
在表21-42中、提到 TD (输出延迟时间、EMIF_CLK 高电平到输出信号有效的时间)为7ns (最大值)。 但是、此数据不存在于 TMS570LC4357-EP 数据表的"异步存储器特性"中。 假设它将为7ns 是安全的吗？ 因为 "同步 存储器特性"表包含相同的值。
SPNU563A 的第21.4.2.2.1节介绍了如何将 TMS570连接到"LH28F800BJE-PTTL90"闪存。 根据 表21-42、TH (数据保持时间、在 EMIF_CLK 高电平之后读取 EMIF_D)为1ns。 这意味着、一旦在 EMIF 时钟的上升沿对 D[15：0]进行采样、闪存器件必须将 D[15：0]引脚保持在有效状态至少1ns。 但是 、LH28F800BJE-PTTL90数据表显示、它的数据保持时间为0ns。 (表6.2.4、我在末尾给出了快照)
我的问题是：
由于 TD 的最大值为7ns、这意味着 TD 可以有0ns 到7ns 之间的任何值；在这种情况下、对于某些读取操作、TD 可能为0ns。 如果发生这种情况、NOE 将与 EMIF 时钟的上升沿一同取消激活；在这个特定的实例中、闪存器件将不能满足 EMIF 的保持时间要求、因为闪存将取消激活 D[15：0]和 NOE。
我的理解是否正确？ (很抱歉这个小的复杂/棘手的问题)。
---闪存器件时序参数---
