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[参考译文] TMS570LC4357：是否有用于自检新外设 ECC RAM 的示例代码？

admin
Guru**** 2478765 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357, HALCOGEN, TMS570LS3137

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1009967/tms570lc4357-is-there-example-code-for-self-testing-the-new-peripheral-ecc-ram

器件型号：TMS570LC4357
主题中讨论的其他器件： HALCOGEN、 TMS570LS3137

我有几个基于 TMS570LS3137的项目、这个处理器的原始 TI 示例软件有很多外设-RAM-奇 偶校验自检函数。 在我的新 TMS570LC4357项目中、我已使奇偶校验自检函数在经过少量修改后正常工作、但我无法使外设 ECC 自检正常工作(例如 CAN、DMA 或 MIBSPI)。 我找到的唯一示例代码是 C：\ti\Hercules \Hercules 安全 MCU 演示\4.0.0\TMS570LC43x_target_Sources 或由 HalCoGen 生成的代码。 安全演示代码包括一些用于 dmaECCCheck 和 canXECCCheck 的函数原型、但没有源代码。 我在 HalCoGen 中找不到任何配置来使它生成任何奇偶校验/ECC 自检代码。  

这些 DMA、CAN 和/或 MIBSPI ECC 自检功能是否有任何示例代码？

谢谢、

Jim

  • 0
    TI__Guru**** 2478765 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Jim、您好！

    您可以使用 SafeTI 诊断库(SDL)的 API 进行外设自检。

    DMA：  

        SL_SelfTest_DMA (DMA_ECC_TEST_MODE_1BIT)；

         SL_SelfTest_DMA (DMA_ECC_TEST_MODE_2BIT)；

        SL_SelfTest_DMA (DMA_ECC_TEST_MODE_1bit_FAULT_INject)；

         SL_SelfTest_DMA (DMA_ECC_TEST_MODE_2BIT_FAULT_INIT)；

    2. CAN：

         SL_SelfTest_CAN (CAN_ECC_TEST_MODE_1BIT、SL_DCAN1)；

        SL_SelfTest_CAN (CAN_ECC_TEST_MODE_2BIT、SL_DCAN1)；

        SL_SelfTest_CAN (CAN_ECC_TEST_MODE_1bit_FAULT_INject、SL_DCAN1)；

        SL_SelfTest_CAN (CAN_ECC_TEST_MODE_2BIT_FAULT_INIT、SL_DCAN1)；

    3. MibSPI：

         SL_SelfTest_MibSPI (MIBSPI_ECC_TEST_MODE_1BIT、SL_MIBSPI1)；

         SL_SelfTest_MibSPI (MIBSPI_ECC_TEST_MODE_2BIT、SL_MIBSPI1)；

        SL_SelfTest_MibSPI (MIBSPI_ECC_TEST_MODE_1bit_FAULT_INIT、SL_MIBSPI1)；           

        SL_SelfTest_MibSPI (MIBSPI_ECC_TEST_MODE_2BIT_FAULT_Inject、SL_MIBSPI1)；

    请阅读 SDL 的演示代码。