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[参考译文] TMS570LS3137：关于 ECC 功能测试

admin
Guru**** 2595805 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/996582/tms570ls3137-about-ecc-function-test

器件型号：TMS570LS3137

你好

 团队  

 我有一点怀疑

是否使用硬件实现的闪存和 RAM ECC 功能？

函数 SL_SelfTest_RAM（SRAM_ECC_ERROR_Forcing_1bit） 和 SL_SelfTest_Flash（FLASH_ECC_TEST_MODE_1bit），什么是角色？

  他是否通过软件测试硬件功能？

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    TI__Guru**** 2595805 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好

    1.是的、ECC 由硬件计算和检查。 Hercules 器件具有片上诊断特性：锁步中的双 CPU、CPU BIST、闪存和 RAM 上的 ECC。

    sl_SelfTest_RAM  ()可以执行下列测试： 1位和2位 ECC 错误注入、地址和控制总线奇偶校验、冗余地址解码检查

    SL_SelfTest_Flash 可以执行 TRM 中列出的诊断测试：1位和2位 ECC 错误注入、闪存地址奇偶校验自检(故障注入)等

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    TI__Guru**** 2595805 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    谢谢你  

    检查 ECC 功能是否正常。 是否由该函数“sl_SelfTest_Flash”“sl_SelfTest_RAM ()”？进行检查

    或通过其他函数检查 ECC 函数是否正常。

    或者在 sys_startup.c 中、哪个函数可以检查此 ECC 功能

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    TI__Guru**** 2595805 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    闪存和 SRAM 由单纠错双纠错(SECDED)保护。 默认情况下会禁用 SECDED、因此您需要在 sys_startup.c 中启用它 ECC 逻辑可使用这两个自检功能进行测试。

    自检可在启动或运行时执行。