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器件型号：TMS570LS1114 您好！
这是 DCAN 外设安全手册中的声明、
DCAN SRAM 由一个位复用机制执行、这样被存取用来生成一个逻辑(CPU)字的位的物理位置不相邻。 该方案有助于降低物理多位故障导致逻辑多位故障的可能性；相反、它们表现为多个单位故障。
我的疑问被给出了迟来、
1.您是否会解释模块 SRAM 中的安全机制。 它是否与 ECC 相同？ 到目前为止、我了解到模块 SRAM (e、.g；DCAN 消息 SRAM 区域)中没有 ECC
2、如何开启此功能、如何检测故障以及需要采取何种机制来将诊断覆盖范围提高到高电平。
此致、
Arshad Ziyad
