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器件型号：TMS570LC4357 主题中讨论的其他器件：NOWECC、
您好！
我对闪存 ECC 区域(地址0xF0400000至 F05FFFFF 之间)有不同的问题：
--> 由于我们每64位数据都有8位 ECC，所以在此区域中只使用了515KB 的字节？ 剩余的1、5 MB 未使用？
-->在数据表中，需要通过 nowECC 等外部工具计算 ECC。
是否可以通过 CPU 而不是外部工具自动对 ECC 数据进行编程。 可以使用哪个寄存器？
-->是否可以通过编程和读取数据(例如0xAA/0x55)来检查闪存 ECC 区域的完整性(例如没有卡在"0"或"1"的位)？
在这种情况下、必须不激活 ECC 机制？
-->要测试错误的1位或2位 ECC 机制，我需要损坏闪存 ECC 区域。 我在数据表中找到了 ECC 数据校正诊断模式7 (DIAGMODE = 7)。
通过此诊断自检、可以覆盖所有闪存地址？
还有其他意义吗？ 例如、是否可以停用 ECC 机制、使用错误值直接写入闪存 ECC 区域并激活 ECC 机制来检查校正或检测？
此致、
François μ A
