[参考译文] RM46L430：SRAM 测试清理

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/802912/rm46l430-sram-test-cleanup

是问题、需要在 sl_SRAM_TEST 之前备份和恢复 SRAM、如本帖子中所述：

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/hercules/f/312/p/601225/2215521

仍适用于 STL 2.40版？

下面的 Mark 建议的方法是否被认为是必要和完整的、或者版本2.40中的上下文备份和恢复在库中自动发生？

来自 Mark：

在 IRQ/FIQ 周围插入一个包装程序异常处理程序并截取 ESM 高优先级和低优先级中断处理程序、并且在包装程序中：

           如果 TEST = SRAM_PAR_ADDR_CTRL_self_test、则

                      ESM SR2 = 0x00000400

                      VIM IRQ INTREQ0=0x00000001

在‘S调用‘L_SelfTest_SRAM’之前：

           保存 TCRAM 偶数和奇数 RAMCTRL

           保存 TCRAM 偶数和奇数 RAMTHRESH

‘S调用‘L_SelfTest_SRAM’后：

           恢复 TCRAM 偶数和奇数 RAMCTRL

           恢复 TCRAM 偶数和奇数 RAMTHRESH

           读取以解锁 TCRAM 偶数和奇数 RAMPERADDR、RAMSERRADDR、RAMUERRADDR

           清除 ESM SR3 0x00000028

           清除和错误引脚并将密钥复位为正常

并非每个测试都需要执行所有步骤、但只有完成这些步骤才能使所有测试报告通过。