[参考译文] TMS570LS3137：TMS570LS3137：pbistSelfCheck 方法详细信息

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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/798340/tms570ls3137-tms570ls3137-pbistselfcheck-method-details

器件型号：TMS570LS3137
主题中讨论的其他器件：HALCOGEN

您好！

我们使用 HALCOGEN 生成的代码来使用 PBIST 控制器执行内置测试。我可以看到以下有关 pbistSelfCheck()方法的注释。我想知道在函数 pbistSelfCheck()函数中使用的、但在 TRM 中没有列出的寄存器。请您分享这些详细信息吗？

/**@fn void pbistSelfCheck (void)
*@简短 PBIST 自检驱动程序
*
*调用此函数以执行 PBIST 自检。
*
*@请注意、此函数使用的寄存器不会通过公开给用户
* TRM，运行自定义算法使 PBIST 失败。用户可以将此功能用作黑盒。
*
*

谢谢、

Kalyan

6 年多前

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2595805 points

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您好 Kalyan、

HALCoGen 生成的 pbistSelfCheck() 使用自定义算法，该算法将使 PBIST 失败，以确保 PBIST 能够检测并指示内存自检故障。保留寄存器(pbistREG->rsvd1[1U]=1U；)用于运行自定义算法。自定义算法由"pbistREG->rsvd1[1U]=1U"行上方的行定义；

我们不希望客户写入"RSVD"寄存器、因为用户很可能会在自定义算法中出错、并进行器件存储器测试以产生错误结果。

您还可以通过简单地根据错误的算法选择错误的存储器来执行 pbist 自检。也就是说、您可以选择单端口存储器并选择双端口测试算法(基本上不遵循数据表中的 PBIST RAM 分组表)。我将为您修改代码作为参考。

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2595805 points

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我修改了代码、可以得到预期的误差。

/* PBIST 的 CPU 控制*/

// pbistREG->DLR = 0x10U；

/*自定义始终失败算法，这将不使用 ROM，只需设置失败*/

pbistREG->RAMT = 0x00002000U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF400U = 0x4C000001U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF440U = 0x00000075U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF404U = 0x4C000002U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF444U = 0x00000075U；

*(易失性 UINT32 *) 0xFFFFFF408U = 0x4C000003U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF448U = 0x00000075U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF40CU = 0x4C000004U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF44CU = 0x00000075U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF410U = 0x4C000005U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF450U = 0x00000075U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF414U = 0x4C000006U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF454U = 0x00000075U；

*(易失性 UINT32 *) 0xFFFFFFE418U = 0x00000000U；

*(volatile UINT32 *) 0xFFFFFF458U = 0x00000001U；

/* PBIST_RUN */

// pbistREG->rsvd1[1U]=1U；

/*选择要测试的所有算法*/

pbistREG->algo = 0x00000002；//算法4.

/*选择 RAM 组*/

pbistREG->RINFOL = 0x1 <<(7-1)；//MibSPI1 RAM

/*选择所有 RAM 组*/

pbistREG->RINFUU = 0x00000000U；

/* ROM 内容不会覆盖 RINFox 设置*/

pbistREG->over = 0x0U；

/*算法代码从 ROM 加载*/

pbistREG->ROM = 0x3U；

/*启动 PBIST */

pbistREG->DLR = 0x14U；

代码使用算法#2 (TRIPLE_READ_FAST_READ)来测试 MibSPI1 RAM。算法#2专为 ROM 设计。

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）(Read Only)

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