[参考译文] TMS570LC4357：在上电期间连续执行诊断 RAM16和 RAM17时出现问题

尊敬的 Max：

我们已开始处理您的问题、我们将很快回复您。

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谢谢、此致、

Jagadish。

尊敬的 Max：

该器件提供了一种测试冗余地址解码器逻辑和比较逻辑的机制。 通过向 ramtest 寄存器写入0xA 可启用该功能、并通过向 ramtest 寄存器的触发位写入1来执行该测试。

您好 QJ、

我在上一篇文章中发现了错误并进行了更正。

在再次检查代码后、我们在 RAM16诊断中找到了一个 ERRr、这似乎使我们能够删除一些等待函数。
现在、在测试冗余地址解码器之前、我们似乎只需要等待2000至5000个周期。

在执行测试时、我们使用了"void _sl_SelfTest_SRAD_RAD (sl_l2ramwbase_t * ramBase、sl_SelfTest_Result * rad_stResult)"(SafeTI Lib 2.4.0)。

技术参考手册第8.2.6节中提到以下内容：

是否可以在运行测试之前等待几个周期、以确保内存组不忙并且立即执行测试？

谢谢、此致、
最大

尊敬的 Max：

我不确定使用 DSB 是否适合您。  DSB 指令之后的指令在 DSB 完成之前的所有存储器访问之前不会被执行。

您好 QJ、

我们当前未使用 DSB。 我们只需使用 for loop 和__asm__(" nop")等待。 使用 DSB 指令似乎不起作用。

测试完成后、触发位自动清零。 您可以使用 while ()等待触发器被清除。

您好 QJ、

等待触发位没有改变任何东西。 但是、在运行任何其他加电测试之前运行测试可以不等待任何时间。
例如、在 PMM5和 PMM6诊断之后运行测试需要一个延迟、否则测试或之后的另一个测试将失败。

有什么想法、这可能是什么问题？

谢谢、此致、
最大