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[参考译文] TMS570LC4357:非常慢的编程/闪存

Guru**** 2478765 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/925952/tms570lc4357-very-slow-programming-flashing

器件型号:TMS570LC4357

我获得了具有 TMS570 MCU 的 Hercules 安全 MCU 开发套件。   我正在使用板载调试探针。

非常非常非常慢的编程  我已经设置了删除闪存编程验证的选项、并且只擦除需要/使用的扇区(该逻辑是 CCS 的一部分)。

为什么要花这么长时间??  它通常也会失败并挂起。   编程时间超过1分钟、并且它不是任何使用该闪存的地方...

这里有什么可以做的呢?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    最后一次尝试- 2:06.35。   (超过2分钟! 多么痛苦啊)

    处理:

    CortexR5:GEL 输出:闪存@地址0x0的存储器映射设置
    CortexR5:GEL 输出:由于系统复位、闪存@地址0x0的存储器映射设置
    CortexR5:写入 Flash @地址0x00000000的长度0x00000020
    CortexR5:擦除闪存组0、扇区0
    CortexR5:验证闪存@地址0x00000000的长度0x00000020
    CortexR5:写入 Flash @地址0x00000080的长度0x00007ff0
    CortexR5:擦除闪存组0、扇区1
    CortexR5:擦除闪存组0、扇区2
    CortexR5:验证 Flash @地址0x00000080的长度0x00007FF0
    CortexR5:写入 Flash @地址0x00008070、长度0x0000065c
    CortexR5:验证闪存@长度为0x0000065C 的地址0x00008070
    CortexR5:写入 Flash @地址0x00010000、长度0x00007ff0
    CortexR5:擦除闪存组0、扇区4
    CortexR5:擦除闪存组0、扇区5
    CortexR5:验证 Flash @地址0x00010000的长度0x00007FF0
    CortexR5:写入长度为0x000075f0的闪存@地址0x00017ff0
    CortexR5:擦除闪存组0、扇区6
    CortexR5:验证闪存@长度为0x000075F0的地址0x00017FF0
    CortexR5:GEL 输出:由于系统复位、闪存@地址0x0的存储器映射设置

    之后在 main 准备就绪。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    板载仿真器是 xds100v2。 xds100v2的最大速度为1MHz。  

    请参阅数据表中有关闪存擦除/编程时间的表6-31:

    扇区擦除时间为0.3s~4s

    宽字(288位、闪存组宽度)编程时间为:40us~300us

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢  提供数据表数据。

    但是、您能否为该电路板提供/共享 CCSv10的调试配置、这对您来说是很好的吗?

    因为我的设置显然有问题、我无法与目标和/或调试探针或两者进行正确的通信。   

    以下是"Verify (验证)"调试探针连接输出的输出、该输出来自 CCS General / Connection -> TI XDS100v2 USB Debug Probe。  

    [开始]

    执行以下命令:

    %CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

    [结果]


    ---- [打印电路板配置路径名]---------------

    /home/esembdev/.ti/ccs1010/0/0/BrdDat/testBoard.dat

    ---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

    此实用程序已选择100或510类产品。
    此实用程序将加载适配器'libjioserdesusb.so'。
    库构建日期为"2020年7月"。
    库构建时间为'20:44:54'。
    库软件包版本为'9.2.0.00002'。
    库组件版本为'35.0.0'。
    控制器不使用可编程 FPGA。
    控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
    控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
    此实用程序将尝试重置控制器。
    此实用程序已成功重置控制器。

    ---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

    扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
    控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
    从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
    该软件配置为 FTDI FT2232功能。
    控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
    控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
    控制器无法控制输出引脚上的时序。
    控制器无法控制输入引脚上的时序。
    扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

    ---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

    没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

    ---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

    没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

    ---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

    此路径长度测试使用64个32位字的块。

    JTAG IR 指令路径长度测试成功。
    JTAG IR 指令路径长度为6位。

    JTAG DR 旁路路径长度测试成功。
    JTAG DR 旁路路径长度为1位。

    ---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试:1、跳过:0、失败:0
    使用0x00000000执行测试。
    扫描测试:2、跳过:0、失败:0
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试:3、跳过:0、失败:0
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试:4、跳过:0、失败:0
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试:5、跳过:0、失败:0
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试:6、跳过:0、失败:0
    所有值均已正确扫描。

    JTAG IR 完整性扫描测试成功。

    ---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试:1、跳过:0、失败:0
    使用0x00000000执行测试。
    扫描测试:2、跳过:0、失败:0
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试:3、跳过:0、失败:0
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试:4、跳过:0、失败:0
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试:5、跳过:0、失败:0
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试:6、跳过:0、失败:0
    所有值均已正确扫描。

    JTAG DR 完整性扫描测试成功。

    [结束]

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  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!  

    这是我用于 TMS570LC43x HDK 的目标配置文件:

    e2e.ti.com/.../5287.TMS570LC4357_5F00_HDK_5F00_XDS100V2.ccxml