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[参考译文] LP-MSPM0L1306:温度传感器

Guru**** 2340060 points
Other Parts Discussed in Thread: LP-MSPM0L1306, MSPM0L1305
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1222599/lp-mspm0l1306-temperature-sensor

器件型号:LP-MSPM0L1306
主题中讨论的其他器件: MSPM0L1305

您好!

我们已经在测试内部温度传感器、只有在 对 ADC 使用自动断电策略 或采样非常慢(即1秒)时、才能使其按预期工作。
我无法在 SDK 中找到针对内部温度传感器的任何示例、未来是否会添加该传感器?

目标:
LP-MSPM0L1306 / MSPM0L1305 -初始器件。

ADC:
CLKSOURCE:SYSCLK (32MHz)、分频器= 8。
转换模式=单路、自动采样模式、软件触发源、  
转换存储器0 =通道11 (温度传感器)、使用配置为1.4V 的内部基准的 VREF。  
12位分辨率、采样时间125us、无 FIFO。
无平均值计算

VREF:
内部、1.4V、BUSCLK (32MHz)、无采样保持模式

在我们的测试设置中、我们等待10个 ADC 样本、然后通过 UART 传输、因此未连接调试器。

测试1:AUTO_POWER_MODE
我们每100ms 启动一次转换。
ADC 断电模式设置为 AUTO
ADC 采样在1300cnt 附近相对稳定。
我们认为这是预期行为。

测试2:MANUAL_POWER_MODE
我们每100ms 启动一次转换。
ADC 断电模式设置为 手动
POR 之后的第一个 ADC 采样大约为1300cnt。
然后、其余样本约为700cnt。
我们考虑这种意外行为、并期望得到与 test1相同的结果、因为我们从不关闭 ADC。

测试3:SLOVER_SAMPLING_TIME_250ms
我们每250毫秒启动一次转换。
ADC 断电模式设置为 手动
POR 之后的第一个 ADC 采样大约为1300cnt。
然后、其余样本约为900cnt。

测试4:SLOVER_SAMPLING_TIME_500ms
我们每500ms 启动一次转换。
ADC 断电模式设置为 手动
ADC 采样在1300cnt 附近相对稳定。

测试5:SLOVER_SAMPLING_TIME_1000ms
我们每1000ms 启动一次转换。
ADC 断电模式设置为 手动
ADC 采样在1300cnt 附近相对稳定。

测试5:CHANNEL_15_SUPPLY_MON
设置与测试2相同-但我们将 ADC 通道交换为15、以查看该问题一般是与 ADC 还是仅与温度传感器有关。
我们每 100ms 启动一次转换。
ADC 断电模式设置为 手动
ADC 样本在3200cnt 左右相对稳定

我们想知道您是否可以对此提供解释-断电策略设置为手动时、我们是否需要对温度传感器执行一些特殊操作?
您能否提供一个使用手动断电模式、具有内部 Vref 的单次转换模式测量 ADC 内部温度传感器的示例?  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    这是预发布芯片的已知限制、位于 mysecureSW 文件夹中的差异文档文档介绍了这一点、条目 PMCU_07 - PMCU 中的温度传感器不可用。  

    量产器件将启用此功能、并提供软件示例。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    噢... 猜我们没想到这一点...

    感谢您的快速回复!