[参考译文] TMS570LC4357：由于 DMAECCSBE 中存储的地址不正确、DMA ECC 自检随机失败

您好、 Cameron、

我将进行测试、然后很快回来与您联系。

您好、 Cameron、

 DMAECCSBE 只有在 SBERR 标志被置位时有效。 当您得到错误的错误地址时、是否设置了错误标志？

您好、QJ：

每次都会设置 SBERR 标志。 仅错误地址错误。 我运行了 50次试验、损坏了地址 0xFFF80010。 SBERR 一直为1、但 DMAECCSBE 出错了7次：

试用11、13、39和50：DMAECCSBE=0xFFF80014

试用15和24：DMAECCSBE=0xFFF8001C

试用26 DMAECCSBE=0xFFF80018

感谢您提供任何指导、

Cameron

您好、Cameron、

我在我的 LaunchPad 上进行了相同的测试。 我没有重现问题：

testCount0是总测试数、testCount1是错误地址不正确的测试数(0xFFF80014)。

#define dmaBadECC     0xFFF80014u

我已在两个 TMS570LC4357 MCU 上进行过此尝试、   无论我是将 dmaBadECC 定义为0xFFF80010u 还是0xFFF80014u、DMAECCSBE 中都报告了错误的地址。 在 DMASECCCTRL 中始终正确设置 SBERR。

由于它对您有效、我想知道您正在进行的某些设置是否 我错过了。 在从( SafeTI 诊断库2.4.0中定义的)运行 sl_SelfTest_DMA ()之前、我唯一要做的配置是将 DMAPCR 设置为等于0xA。 是否 应该事先设置其他任何 可能导致我看到的错误的内容？

非常感谢您的帮助！

Cameron

您好、 Cameron、

我使用与 SDL 2.4相同的 API (sl_SelfTest_DMA ())。  

您好、QJ：

我仍在尝试解决这个问题、我发现 DMA 2位自检通常也可以通过、 但有时会失败、因为 DMAPAR 寄存器的 ECC 错误检测标志(位24)未置位、而 ESM ECC 不可纠正的错误位未在状态寄存器1中置位。 我的印象是2位自检和1位自检一样不成功。 这对您来说是否有任何可能帮助我发现问题的地方？

谢谢。

Cameron

您好、 Cameron、

这是我用于 DMA ECC 错误注入的测试代码：

非常感谢您发送项目。 我注意到了一些 我没有执行的清除 ESM 状态寄存器的配置步骤、但是即使在添加它们之后、我仍然偶尔看到错误的地址存储在 DMAECCSBE 中。  

但是、我注意到的一件事是您正在使用编译器 ARMv16.9、我无法将其安装在我的环境中。 我将使用 ARM 编译器工具 v5.1.6与 CCS v6.0.1.00040配合使用。 这有可能对 DMA ECC 自检产生影响吗？

谢谢。

Cameron

Unknown 说：

我使用的是 带有 CCS v6.0.1.00040的 ARM 编译器工具 v5.1.6。 是否可能影响 DMA ECC 自检？

我将使用 CCS12.1和编译器16.9或20.2.7。

您是否在您的板上尝试了我的*。out 文件？

我可以尝试您的测试代码、它使用调试模式可以很好地工作。 在调试模式下、我的项目还一致地在 DMAECCSBE 中存储正确的地址。 但是、问题仅发生 在版本构建中(而不是在调试中)。 我通过使用 SCI 将其写入串行端口来检查寄存器的内容。

您好、 Cameron、

Debug 和 Release 是构建配置。  CCS 中的工程可以具有一个或多个编译配置。 构建配置指定要使用的编译器版本、编译器的设置和选项、要包含/排除哪些源文件...  

通常、用户将设置调试编译配置以 启用完整的符号调试信息、从而提高调试应用的能力。 从发布配置中删除调试信息并使用更高级别的优化也很常见。 请注意、每个配置所使用的构建选项完全在您的控制之下。

我想我应该回答的 是、每次我在 CCS 中使用 CDT 调试器运行时、您的代码都能正常工作、这似乎是 您用于检查 DMAECCSBE 地址是否正确(如您在上面发布的图像中所示)。

我的项目也可以与调试器一起正常工作、但 无论 我试过哪种 构建选项(包括没有优化)、当编译从调试器独立运行时、它仍然无法一致地在 DMAECCSBE 中报告正确的地址。

您好、Cameron、

Unknown 说：

构建在调试器之外运行时。

它在上电复位后是否运行？

是的、它会在上电复位后运行并遇到问题。

我将使用 TMS570LC43x Launchpad 进行此测试。 该 LaunchPad 通过 USB 电缆供电、该电缆也用于 XDS110调试器和 SCI。  

我在连接调试器并断开调试器(上电复位)的情况下运行测试。 我获得了相同的测试结果。

这是我的测试结果：

前两行：在连接了调试器的情况下进行测试

其余(第3行~第8行)：上电复位后进行测试。

QJ、您好！

CPU 时钟速度可能是我们看到的结果差异的原因吗？  地雷已配置 为最大速度。 如果你的价格较低、那能解释一下差异吗？

感谢您的帮助。

Cameron

您好、 Cameron、

我的示例项目中使用了300MHz CPU 时钟。 TMS570LC43x 的最大 CPU 时钟为300MHz。

您好、QJ：

继续以该主题为例、我 将 TestSafeTI.hcg 文件中的时钟配置与.hcg 文件中的时钟配置进行了比较。 在 GCM 页面的 TMS570LC4357ZWT 选项卡中、我注意到以下差异(括号中的值)。  这些不同的值中的任何一个是否与我们看到的错误相关？ 谢谢。

HCLK 分频器= 2 (1)
HCLK = 100.000 (150.000)
VCLKA src = VCLK (PLL2)
VLCK1 = 50.000 (75.000)
VLCK2 = 50.000 (75.000)
VLCK3 = 12.500 (75.000)
VLCKA = 50.000 (80.000)
RTI1CLK = 50.000 (75.000)
VCLKA4_DIV = 50.000 (75.000)
VCLKA4_S = 50.000 (75.000)
振荡器= 16.0 (18.0)
PLL2 = 300.0 (80.0)

您好、 Cameron、

我将 HCLK 重新配置为150MHz、所有测试都通过。

testCount0和 testCount1：通过测试的数量

测试总数: 200

QJ、这看起来不错、但我仍然有测试问题。

我注意到、你在循环中运行测试、但是我 每次都在上电复位后进行。 您还可以尝试在上电复位几次后运行测试、看看它是否仍然持续工作？  

谢谢。

Cameron

在回答最后一个问题后、我尝试在启用 ECC 后和运行测试之前执行 DMA RAM 自动初始化(根据技术参考手册2.2.4.2节)。 这样做时、我每次运行 DMA ECC 1位测试时都会看到正确的地址、而且2位测试也每次都通过。

这可以解决我的问题、但我想向您确认、在 ECC 功能可靠之前、执行 DMA RAM 自动初始化实际上是必需的步骤。 是这样吗？ (可能我错过了它、但我没有看到它是在上面链接的示例项目中完成的任何地方。)

谢谢。

Cameron