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[参考译文] TMS570LS0914:程序失败检查

Guru**** 663810 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS0914, TMS570LS2135
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1208543/tms570ls0914-program-fail-check

器件型号:TMS570LS0914
主题中讨论的其他器件: TMS570LS2135

大家好、

TMS570LS0914用于新项目、具有程序问题。 您能为客户检查一下吗? 谢谢。

我还为这个问题添加了附件。

 

背景 :μ A

TMS570LS2135是客户侧的大规模生产、它可以很好地工作、可以由 CCS6.0.1进行编程、它也可以进行很好的调试。

现在客户希望降低成本、所以新项目将使用 TMS570LS0914、软件与旧项目相同(TMS570LS2135)。 TMS570LS0914的闪存比 TMS570LS2135小。

 

故障性能:

使用 CCS8.3.1时、TMS570LS0914编程失败。 它可以进行调试。

 

方案行动:

这两个不同器件的编程方法相同。 对于旧的 CCS 版本、它不包含 TMS570LS0914、因此客户将 CCS 更新到 CCS8.3.1。

1.创建项目

加载 GEL 文件

 

3. 加载 GEL file_2

 

4. 加载 GEL 文件

加载 GEL File_3

6.采取行动

7.采取行动

8.详细测试结果

   

该程序操作的所有日志:

[开始:Spectrum Digital XDS560V2 STM Traveler Emulator_0]

 

执行命令:

 

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatfilename%-RV -o -F inform、logfile=yes -S 路径长度-S 完整性

 

[结果]

 

 

-------- [打印主板配置路径名}-->--------------------

 

C:\Users\xuqh\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\

   TI\0\0\BrdData\testBoard.dat

 

-------- [打印复位命令软件日志文件]----------

 

该实用程序选择了560/2xx 类产品。

此实用程序将加载程序的地址560v2u.out"。

库构建日期为"2019年4月30日"。

库构建时间为"11:41:17"。

库包版本为"8.1.0.00012"。

库组件版本为'35.35.35.5.0'。

控制器不使用可编程 FPGA。

控制器的版本号为"6"(0x00000006)。

控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。

电缆+ POD 的版本号为"8"(0x00000008)。

电缆+ POD 的功能编号为"7423"(0x00001cff)。

此实用程序将尝试重置控制器。

此实用程序已成功重置控制器。

 

-------- [打印重设命令硬件日志文件]----------

 

通过切换 JTAG TRST 信号可重置扫描路径。

该控制器为 Nano-TBC VHDL。

该链路是560类第二代560电缆。

该软件已针对 Nano-TBC VHDL 功能进行配置。

控制器将通过其寄存器进行软件复位。

控制器在其 EMU[0]输入引脚上具有逻辑1。

控制器在其 EMU[1]输入引脚上具有逻辑1。

控制器将在输出引脚上使用下降沿时序。

控制器无法控制输入引脚上的时序。

扫描路径链路延迟已精确设置为"2"(0x0002)。

实用程序逻辑之前未检测到断电。

实用程序逻辑当前未检测到断电。

 

-------- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]------

 

 测试 大小  CORD     MHz   标志 结果      描述

 ~~~~ ~~~~ ~~~~~~~μ A  ~~~~~~~~μ A  ~~~~ ~~~~~~~~~~~μ A  ~~~~~~~~~~~~~~~~~~~μ A

   1  无 - 01 00 500.0kHz  -   类似的     内部时钟

   2  无 - 01 09 570.3kHz -     类似的     内部时钟

   3    64 - 01 00 500.0kHz  O   正确值  测量路径长度

   4    16 - 01 00 500.0kHz  O   良好值  自动步进初始值

   5    16 - 01 0D 601.6kHz  O   良好值  自动步进差值

   6    16 - 01 1C 718.8kHz  O   良好值  自动步进差值

   7    16 - 01 2E 859.4kHz  O   良好值  自动步进差值

   8    16 + 00 02 1.031MHz  O   良好值  自动步进增量

   9    16 + 00 0F 1.234MHz  O   良好值  自动步进增量

  10    16 + 00 1F 1.484MHz  O   良好值  自动步进增量

  11    16 + 00 32 1.781MHz  O   良好值  自动步进增量

  12    16 + 01 04 2.125MHz  O   良好值  自动步进增量

  13    16 + 01 11 2.531MHz  O   良好值  自动步进增量

  14    16 + 01 21 3.031MHz  O   良好值  自动步进增量

  15    16 + 01 34 3.625MHz  O   良好值  自动步进增量

  16    16 + 02 05 4.313MHz  O   良好值  自动步进增量

  17    16 + 02 13 5.188MHz  O   良好值  自动步进增量

  18    16 + 02 23 6.188MHz  O   良好值  自动步进增量

  19    16 + 02 37 7.438MHz  O   良好值  自动步进增量

  20    16 + 03 07 8.875MHz  O   良好值  自动步进增量

  21    16 + 03 15 10.63MHz  O   良好值  自动步进增量

  22    16 + 03 1E 11.75MHz {O}  良好值  自动步进增量

  23    64 + 02 3E 7.875MHz  O   正常值  自动功率初始值

  24    64 + 03 0E 9.750MHz  O   GOOD 值  自动功率增量

  25    64 + 03 16 10.75MHz  O   良好值  自动功率增量

  26    64 + 03 1A 11.25MHz  O   良好值  自动功率差值

  27    64 + 03 1C 11.50MHz  O   Good Value  自动功率差值

  28    64 + 03 1D 11.63MHz  O   良好值  自动功率差值

  29    64 + 03 1D 11.63MHz  O   良好值  自动功率差值

  30    64 + 03 13 10.38MHz {O}  良好值  自动裕量初始值

 

第一个内部/外部时钟测试资源为:

预期频率为500000Hz。

实际频率为499110Hz。

增量频率为890Hz。

 

第二个内部/外部时钟测试资源为:

预期频率为570312Hz。

实际频率为569976Hz。

增量频率为336Hz。

 

在扫描路径测试中:

测试长度为2048位。

JTAG 红外长度为6位。

JTAG DR 长度为1位。

 

IR/DR 扫描路径测试使用30个频率。

IR/DR 扫描路径测试使用500.0kHz 作为初始频率。

IR/DR 扫描路径测试使用11.75MHz 作为最高频率。

IR/DR 扫描路径测试使用10.38MHz 作为最终频率。

 

-------- [测量 JTAG TCLKR 最后输入的源和频率]----

 

测得的 JTAG TCLKR 输入频率为10.37MHz。

 

JTAG TCLKR 输入和 TCLKO 输出信号的频率是相似的。

目标系统可能使用仿真器 PLL 的 TCLKO 输出。

 

-------- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试}-->----

 

此路径长度测试使用64个32位字的块。

 

JTAG IR 指令路径长度的测试成功。

JTAG IR 指令路径长度为6位。

 

JTAG DR 旁路路径长度的测试成功。

JTAG DR 旁路路径长度为1位。

 

-------- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试}-->----------

 

此测试将使用64个32位字的块。

此测试将只应用一次。

 

使用0xFFFFFFFF 执行测试。

扫描测试:1、跳过:0、失败:0

使用0x00000000进行测试。

扫描测试:2、跳过:0、失败:0

使用0xFE03E0E2进行测试。

扫描测试:3、跳过:0、失败:0

使用0x01FC1F1D 进行测试。

扫描测试:4、跳过:0、失败:0

使用0x5533CCAA 进行测试。

扫描测试:5、跳过:0、失败:0

使用0xAACC3355进行测试。

扫描测试:6、跳过:0、失败:0

所有值均已正确扫描。

 

JTAG 红外完整性扫描测试已成功。

 

-------- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试-------------------------------------------------------

 

此测试将使用64个32位字的块。

此测试将只应用一次。

 

使用0xFFFFFFFF 执行测试。

扫描测试:1、跳过:0、失败:0

使用0x00000000进行测试。

扫描测试:2、跳过:0、失败:0

使用0xFE03E0E2进行测试。

扫描测试:3、跳过:0、失败:0

使用0x01FC1F1D 进行测试。

扫描测试:4、跳过:0、失败:0

使用0x5533CCAA 进行测试。

扫描测试:5、跳过:0、失败:0

使用0xAACC3355进行测试。

扫描测试:6、跳过:0、失败:0

所有值均已正确扫描。

 

JTAG DR 完整性扫描测试已成功。

 

[结束:Spectrum Digital XDS560V2 STM Traveler Emulator_0]

 

 9. 开始连接

10.失败屏幕截图

 

此致

郭松珍

+86 15505131552

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    郭颂珍

    我们已着手解决您的问题、并将很快提供更新。

    --

    谢谢。此致、
    Jagadish。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    郭颂珍

    错误1170: 这通常是由于主板上的硬件故障或 MCU 闪存上的无效代码导致其持续复位。 您以前是否向闪存编程过任何代码? 如果是由无效代码导致的、请尝试执行以下过程以使 CPU 进入调试状态:

    1. 打开目标配置窗口、然后启动选定的配置
    2. 切换到调试窗口。
    3. 按住复位(nRST)按钮。
    4. 释放 nRST 按钮后立即点击"Connect Target"。
    5. 应在几次尝试后成功连接至电路板。

    另请参阅以下链接中的"无法访问 DAP"部分。

    调试 JTAG (TI.com)

    --

    谢谢。此致、
    Jagadish。