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[参考译文] TMS570LC4357：冗余地址解码自检

admin
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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1227832/tms570lc4357-redundant-address-decode-self-test

器件型号：TMS570LC4357

我们正在开发包含 SafeTI 诊断库2.4版的项目、并且在试图 使 _SL_SelfTest_SRAM_RAD 自检失败时遇到问题。

您能否指出一种在调试器环境中使用自检寄存器(RAMADDRDEC_VECT 或任何其他寄存器)的方法、以便在 RAMERRSTATUS 上专门设置相应的错误：ADDE (位4)和 ADE (位2)？

我们检查了库代码中是否使用了 RAMADDRDEC_VECT 寄存器、但似乎什么都没有。 数据表(SPNU563a)在第8.2.6节中提到了诊断测试过程中使用该寄存器、但没有关于如何使用它的其他详细信息。