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[参考译文] RM57L843：RM57Lx 器件是否支持闪存包装程序地址 ECC 自检

admin
Guru**** 2535750 points
Other Parts Discussed in Thread: RM57L843

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1222953/rm57l843-does-rm57lx-device-support-flash-wrapper-address-ecc-self-test

器件型号：RM57L843

您好！

通过检查安全库源代码、我们发现测试选项"flash_address_ecc_self_test"包含在宏定义"_RM57Lx_"中。

您能否帮助确认 RM57L843是否支持测试选项"flash_address_ecc_self_test"？

谢谢。

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    您好、Shenruming、

    [quote userid="544303" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1222953/rm57l843-does-rm57lx-device-support-flash-wrapper-address-ecc-self-test 能否帮助确认 RM57L843是否支持测试选项"flash_address_ecc_self_test"？

    RM57L843中不支持地址 ECC 自检"flash_address_ecc_self_test"。

    --

    谢谢。此致、
    Jagadish。

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    Jagadish、您好！

    如果是这样、如何为 RM57Lx 器件执行这个测试？ 换句话说、如何为 RM57Lx 器件找到闪存包装程序地址 ECC 错误？

    非常感谢！

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    您好、Shenruming、

    Unknown 说：
    如果是这样，如何对 RM57Lx 设备执行此测试？ 换言之、如何为 RM57Lx 器件找到闪存包装程序地址 ECC 错误？

    我认为我们不能在 RM57Lx 中执行"flash_address_ecc_self_test"、而只能执行"flash_ecc_test_mode_2bit"。

    让我向内部团队确认一下。

    --

    谢谢。此致、
    Jagadish。

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    Jagadish、您好！

    根据 诊断库用户手册、"闪存包装程序地址 ECC 测试"功能由硬件提供。

    这意味着什么？ 由于只有硬件才能检测到此故障、如何通过应用程序捕获此故障？

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    Jagadish、您好！

    该主题有任何更新吗？

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    您好、Shenruming、

    刚才我有一个内部反馈、

    我们不能使用 SDL 执行"flash_address_ecc_self_test"、我们可以执行诊断模式=5测试(地址标签寄存器测试模式)。

    您能否参阅 TRM 以了解  

     

    --

    谢谢。此致、
    Jagadish。

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    Jagadish、您好！

     "diag mode=5 test"和"flash_address_ecc_self_test"是否等效？

    "Diag mode=5 test"应为"FLASH_ECC_ADDR_TAG_REG_MODE"、与"FLASH_ADDRESS_ECC_self_test"不同。

    非常感谢。

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    Unknown 说：
    是 "diag mode=5 test"和"flash_address_ecc_self_test"等效命令？

    不,他们不是。 RM57x 器件上的闪存包装程序将运行时的 CPU 地址与预取地址标签的两个内部副本进行比较、以保证预取数据确实对应于请求地址标签比较、从而确定预取命中或未命中。 Diag_Mod 5用于检查用于比较地址标签的比较器。  

    这个测试不检查地址的 ECC。

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    您好、QJ：

    您能否确认 RM57Lx  是否支持"flash_address_ecc_self_test"？  

    如果是，如何？ 如果没有、为什么？

    非常感谢。

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    不支持、它不支持此功能。

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    "硬件功能"是什么意思？

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    29个地址线也被包括在闪存包装程序 ECC 计算中。 单个地址行故障 将导致不可纠正的 ECC 错误。 这是硬件特性、默认情况下处于启用状态。

    FLASH_ECC_TEST_MODE_2bIT：2位 ECC 错误可由地址损坏或数据位损坏生成。  

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    当硬件"Flash 包装程序地址 ECC"诊断失败时、您是否能够突出显示哪个错误(ESM 中断)将被触发？ 谢谢。

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    正如我在上一条消息中提到的那样、单个地址行的任何故障都会导致不可纠正的错误、ESM 3.13。

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    您好、QJ：

    但我们在 sl_types.h 中找不到定义的 ESM3.13。

    e2e.ti.com/.../sl_5F00_types.h

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    它不用于自检 API 和示例。

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    您好、QJ：

    如果是、如何为我们执行该诊断？  

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    TI__Guru**** 2535750 points
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    您好！

    该地址包含在闪存 ECC 中。 如果交叉开关直接访问错误的存储体或存储体地址、则将从错误位置获取数据、因此发送到 CPU 的 ECC 将产生错误、从而导致 CPU 发生两位错误。 这是硬件功能。

    但我们没有用于注入地址 ECC 错误的诊断模式。