[参考译文] AM2634：差分 ADC 的 SDK 示例不适用于 ADC0 AIN0-AIN1

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1240973/am2634-sdk-examples-for-differential-adc-do-not-work-with-adc0-ain0-ain1

我从 SDK 8.06运行示例：adc_different_mode_am263x-cc_r5fss0-0_nortos_ti-arm-clang

我想检查 ADC0 AIN0和 AIN1。  我在 TMDSHSECDOCK 集线板引脚9和11上放置一个跳线、以将其接地。  所有测量的读数均应为2112。  这是我得到的结果：

[Cortex_R5_0] ADC 差分模式测试已启动...
ADC0寄存器
SOC0   ：  SOC1
1984:   2343
第1577 章:我是你的!   
1594 ：  2627
1594 ：  2628
 第1587章:我是   
1601 ：  2666
1603 ：  2621
 第1602章:我是谁   
 第1602章:我是谁   
 第1588章:我是你的   
 第1602章:我是谁   
ADC 差分模式测试通过
所有测试均已通过！！

我正在使用 TMDSCNCD263控制卡、PCB# PROC110E2。  AM263x 控制卡硬件用户指南表4-18介绍了多路复用器选择信号 ADC1_MUX_SEL。  也许我所需要做的只是改变它,但它没有解释如何。  对于 I2C 来说是什么吗？  如果是、我该怎么做？

我已经测试了大量其他 ADC 通道、它们可以正常工作(ADC0 AIN2-AIN3等)