[参考译文] RM44L520：RAM 的 PBIST 自检会覆盖所有堆栈数据、因此在自检完成后进入中止。

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Guru**** 2382070 points

Other Parts Discussed in Thread: HALCOGEN

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1244608/rm44l520-the-pbist-self-test-on-ram-overwrites-all-stack-data-so-abort-is-entered-after-the-self-test-is-complete

器件型号：RM44L520
主题中讨论的其他器件：HALCOGEN

大家好、

当使用 diagLib 时、当在 sys_startup.c 中调用 sl_SelfTest_PBIST 来自检所有 TCMRAM 时、自检完成后会覆盖所有栈数据、因此当函数返回时、使用 POP 指令进行出栈操作将进入中止异常。客户希望知道这是否为预期行为。如果没有、如何解决？

您能帮助检查这个问题吗？谢谢。

此致、

切里

2 年多前

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 2382070 points

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您好、Cherry：

这是预期行为。

PBIST 通常在器件启动时运行、这是一个破坏性测试、并且测试期间会覆盖所测试的 SRAM 模块的所有内容。 SRAM 分为多个组、您可以将数据和指令放在一个 SRAM 组中、并测试其他 SRAM 组。

当您在 MCU SRAM 上执行 PBIST 时、堆栈区域中的内容也将丢失。这就是为什么在 HALCoGen 生成的 c_int00 ()中执行 SRAM pbist 测试的原因。

如果您在启动期间在 SRAM 中执行 PBIST、则无需将 SRAM 内容保存到其他位置、因为它不包含任何有用的数据(刚初始化的数据)。

如果您对 SRAM 执行定期 pbist 测试、则需要在开始测试之前保存 SRAM 内容。

有关更多详细信息、请参阅以下主题：

(+) RM46L430：安全手册指出、SL_SelfTest_PBIST 涵盖了 RAM7A 和 RAM7B、但 SL_SelfTest_PBIST 无法运行 TCRAM、因为运行测试会损坏"C"运行时系统-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛

(+) TMS570LC4357：TMS570LC4357中的内部 RAM 存储器测试-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛

谢谢。此致、
Jagadish。

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 2382070 points

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Jagadish、您好！

感谢您的支持，请让我澄清，在 c_int00 ()中执行 SRAM pbist 时会出现此问题。使用 TI 诊断库中包含的 sys_startup.c 文件、而不是使用 halcogen 生成的文件。

由于以下代码、当调用 sl_SelfTest_PBIST 时、会自然而然地生成入栈和出栈操作、这与 halcogen 自动生成的代码不一致。

void afterSTC(void)
{
    SL_CCMR4F_FailInfo			failInfoCCMR4F;		/* CCMR4 Self Test fail info */
    volatile boolean 			retVal;             /* For function return values */
    SL_PBIST_FailInfo           failInfoPBISTSRAM;  /* PBIST Failure information for TCM RAM */
    SL_SelfTest_Result          failInfoFlash;      /* Flash Self test failure information */
    SL_SelfTest_Result          failInfoTCMRAM;     /* TCM RAM Failure  information */
    SL_PBIST_FailInfo           failInfoPBISTOthers;/* PBIST Failure information for non-TCM memories */
    SL_EFuse_Config             stConfigEFuse;      /* EFuse self test configuration */
    
    ......
    ......
    	retVal = SL_SelfTest_PBIST(	PBIST_EXECUTE,                                          /* Execute PBIST test */
								(PBIST_RAMGROUP_06_ESRAM1 | PBIST_RAMGROUP_21_ESRAM5),  /* On all TCM RAMs */
								PBISTALGO_MARCH13N_RED_1PORT);
    while (TRUE != SL_SelfTest_WaitCompletion_PBIST())
    {
    }
    ......
    ......
}

调试时、当 SL_SelfTest_PBIST 函数返回时、出栈故障进入中止状态、但当 RELEASE 全速运行时、它确实正常进入 main。为什么会这样？

谢谢。此致、

切里

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 2382070 points

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您好、Cherry：

我正在处理您的最后一个问题、并将尽快提供更新。

谢谢。此致、
Jagadish。

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 2382070 points

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Jagadish、您好！

谢谢、期待您的回复。

此致！

切里

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 2382070 points

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您好、Cherry：

在执行 pbist 测试之前、您是否将任何指令和数据放入 SRAM？是中止数据中止还是预取中止？ CP15数据故障状态寄存器和指令故障状态寄存器中的故障状态是什么？

在 RELEASE 模式下使用了不同的优化级别。您是否发现 pbist 自检函数中的哪条指令(反汇编)导致了中止？

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）

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[参考译文] RM44L520：RAM 的 PBIST 自检会覆盖所有堆栈数据、因此在自检完成后进入中止。