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器件型号：TMS570LC4357 尊敬的先生：
在一个应用中、微控制器 P/N TMS570LC4357ZWT 的一些样例由于内部温度检测错误而失败。 特别是、在有故障的微控制器中、传感器测量的温度15 °C 高于操作器件测得的温度。 例如、在20°C 温度为的电路板上电后1或2秒、故障微控制器的内部温度为35°C - 40：C、而操作微控制器的温度约为24°C。 考虑到在 断电的电路板上执行的测试持续了几个小时。
下面列出了显示此问题的部分器件的 S/N：
- YFB-83CD4PW
- YFB-IBARR7W
- YFB-29AVKSW
您能帮助我们解决这个问题吗？
谢谢
此致
马尔科·皮萨托
